Cтраница 1
Спектрометрия при радиоактивационном определении примесей в кремнии и его соединениях [54-66] значительно сокращает число операций разделения, а иногда делает их ненужными. Облучению подвергают обычно пробу анализируемого вещества до ее химической обработки, что исключает поправку на холостой опыт, обусловленную примесями в реактивах. При активационном анализе легколетучего трихлорсилана [66] пробу предварительно гидролизуют и облучению подвергают продукт гидролиза. Растворение пробы после облучения и удаление кремния чаще всего производятся обработкой фтористоводородной и азотной кислотами. При растворении кремния в смеси HF и HN03 без добавки серной кислоты происходит также потеря сурьмы. [1]
Спектрометрия позволяет оценить долю излучения каждого из этих элементов в суммарном излучении горных пород, регистрируемом при гамма-каротаже. [2]
Спектрометрия в видимой и ультрафиолетовой части спектра отражает возбужденное состояние комплекса. [3]
Спектрометрия в инфракрасной области спектра не может производиться с помощью вакуумных фотоэлементов и ФЭУ по той причине, что современные фотокатоды имеют красную границу не выше 1100 нм. Однако уже сейчас известны материалы, позволяющие продвинуться до 3 - 4 мкм. Поэтому в инфракрасной области применяются фотоэлементы, работающие на основе внутреннего фотоэффекта. Сюда следует отнести неохлаждаемые фоторезисторы на основе InSb, PbSe и PbS, которые могут быть использованы до 6 мкм, и глубоко охлаждаемые фоторезисторы на основе германия, легированного золотом, цинком, медью и другими металлами, пригодные до 40 мкм. [4]
Спектрометрия в ближней ИК-области занимает выгодное место среди других физических методов количественного анализа. Этот метод отличается большей универсальностью и избирательностью по сравнению с кондуктометрией, диэлькометрией и потенциомет-рией, но несколько сложнее в аппаратурном оформлении. [5]
Спектрометрия в ближней ИК-области в некоторых случаях благодаря избирательности незаменима при анализе водных растворов неорганических веществ и кислот, воды в смесях с органическими соединениями и некоторых смесей органических веществ. [6]
Спектрометрия в видимой и ультрафиолетовой части спектра отражает возбужденное состояние комплекса. По Мялликену строение такого кол г. лек - i может быть представлено сле. [7]
Спектрометрия позволяет оценить долю излучения каждого из этих элементов в суммарном излучении горных пород, регистрируемом при гамма-каротаже. [8]
Спектрометрия в инфракрасной области спектра не может производиться с помощью вакуумных фотоэлементов и ФЭУ по той причине, что современные фотокатоды имеют красную границу не выше 1100 нм. Однако уже сейчас известны материалы, позволяющие продвинуться до 3 - 4 мкм. Поэтому в инфракрасной области применяются фотоэлементы, работающие на основе внутреннего фотоэффекта. Сюда следует отнести неохлаждаемые фоторезисторы на основе InSb, PbSe и PbS, которые могут быть использованы до б мкм, и глубоко охлаждаемые фоторезисторы на основе германия, легированного золотом, цинком, медью и другими металлами, пригодные до 40 мкм. [9]
Спектрометрия при радиоактивационном определении примесей в кремнии и его соединениях [54-66] значительно сокращает число операций разделения, а иногда делает их ненужными. Облучению подвергают обычно пробу анализируемого вещества до ее химической обработки, что исключает поправку на холостой опыт, обусловленную примесями в реактивах. При активационном анализе легколетучего трихлорсилана [66] пробу предварительно гидролизуют и облучению подвергают продукт гидролиза. Растворение пробы после облучения и удаление кремния чаще всего производятся обработкой фтористоводородной и азотной кислотами. [10]
Спектрометрия испускания может быть применена для опреде - ления более 70 известных элементов. Чувствительность этого ме-тода для щелочных и щелочноземельных элементов наиболее высока и позволяет определять их в концентрации до 0 1 весовой части на 1 млн. весовых частей исследуемого вещества, а для 40 - 50 других элементов чувствительность метода меньше, позволяя определять их в концентрациях от 10 до 1 весовой части на 1 млн. Для применения этого аналитического метода, хороша разработанного в настоящее время, требуются очень точные приборы. Такие приборы состоят из следующих основных частей: а) источника излучения; б) средств разложения излучения, которые могут быть представлены либо призмой, либо решеткой, в) воспринимающего устройства, которое может быть либо фотографической пластинкой, как в старых спектрографических аппаратах, либо серией фототрубок, как в более современных спектрометрических приборах. [11]
Рентгено-флуоресцентная спектрометрия является по существу экспрессным методом элементарного анализа и особенно пригодна для определения следовых количеств элементов. Метод является неразрушающим и может применяться для анализа твердых и жидких материалов. В инструментальном отношении развитие рентгено-флуо-ресцентной спектроскопии в настоящее время связано с промышленным производством соответствующего оборудования. [12]
Спектрометрия солнечных вспышек позволяет определить изотопный и элементный состав не только той области солнечной атмосферы, где протекают ядерные реакции, но и состав потоков ускоренных частиц. Ширина ядерной у-линии определяется кинематикой реакции, в к-рой данная линия генерируется. На рис. 8 приведен расчетный энергетич. Полный спектр содержит разл. [13]
Спектрометрия ионизирующего излучения и прежде всего - излучения - наиболее гибкий и универсальный метод инструментального активационного анализа. Возможности спектрометрического метода определяются как свойствами ионизирующего излучения, так и параметрами регистрирующей установки. [14]
Спектрометрия гамма-излучения радиационного захвата основана на зависимости вторичного гамма-излучения от радиационных свойств элемента, ядра которого поглотили нейтрон. [15]