Cтраница 1
![]() |
Схема аналитических линий, видимых в поле зрения Спектромата. [1] |
Спектроскоп имеет две одинаковые щели, расположенные одна над другой и соприкасающиеся между собой. Смещая нижнюю щель, можно устанавливать аналитические линии одну под другой. [2]
![]() |
Внешний вид металлспектроскопа. [3] |
Спектроскоп имеет два штатива для электродов и позволяет наблюдать спектр пробы вместе со спектром сравнения. [4]
Спектроскоп для рассортировки стали, Заводск. [5]
Спектроскоп - это прибор, предназначенный только для визуальных наблюдений спектра. В последнее время производятся, как правило, небольшие спектроскопы, применяемые для учебных целей и ориентировочного ознакомления со спектром. Иногда спектроскопы снабжаются шкалой для грубого определения длин волн. [6]
Спектроскоп с поляризационным фотометром ( стилометр) применяется для количественного спектрального анализа. Схема прибора изображена на фиг. [7]
Спектроскоп также применялся к изучению солнечного света и звезд и вскоре открыл огромные объемы новой информации, химической и другой. [8]
Спектроскопы предназначены для визуального наблюдения спектра. Объектив и окуляр в спектроскопах образуют уже не камеру, а телескопическую систему. Она подобна оптическим системам телескопов и зрительных труб, предназначенных для наблюдения удаленных объектов, лучи от которых идут параллельным пучком. [9]
Спектроскопы, у которых регистрация спектра ведется глазом. Они работают в видимой области 400 - 700 нм. Эти приборы устарели и практического применения в молекулярной спектроскопии не находят. [10]
Спектроскоп обеспечивает визуальное наблюдение спектров излучения и поглощения. [11]
Спектроскопы для измерения интенсивности можно относительно просто переделать в спектрометры для решения простейших задач, если воспользоваться фотоэлектрическими приставками типа Fuess - Stahlspektroskop - Spektrolux, которые будут обсуждены ниже ( разд. [12]
Спектроскопы, измеряющие интенсивность, пригодны для субъективного измерения относительной интенсивности аналитической линии. Теоретические основы измерения были обсуждены ранее ( разд. Измерение проводят либо способом серого клина, основанным на поглощении света ( разд. Показано, что измерение относительной интенсивности заключается по существу в ослаблении интенсивности света более яркой спектральной линии до уровня светового потока менее яркой линии. При этом степень ослабления светового потока измеряют либо по степени его поглощения, либо по степени поляризации света. Идентичность яркостей устанавливают субъективным способом. При оптимальной поверхностной яркости наивысшая точность около 2 % достигается в зелено-желтой области спектра. Точность снижается в 2 раза в зеленой и желтой и до 10 раз в голубой и красной областях спектра. Согласно закону Вебера - Фехнера, в области оптимальных поверхностной яркости и длины волны относительная точность измерения интенсивности света визуальным способом не зависит от поверхностной яркости. Это означает, что если позаботиться о том, чтобы поверхностная яркость линии после ее ослабления попадала в эту оптимальную область, то относительная точность анализа будет наивысшей для определенного интервала концентраций независимо от абсолютной величины концентраций. [13]
Спектроскопы, пригодные также для других целей. [14]
Спектроскоп должен обладать средней дисперсией. Если разрешающая сила слишком мала, то обращенная линия натрия не будет видна и просто исчезнет, если к тому же источник сплошного спектра горячее пламени. [15]