Cтраница 3
Обычные методы оптической спектроскопии и спектрофото-метрии для определения ртути в силикатных породах не достаточно чувствительны. Для этой цели рекомендуется нейтронно-ак-тивационный анализ [4, 5], однако какими бы химическими методами ни производился анализ, всегда необходимо принимать меры по предотвращению или ограничению потерь ртути вследствие ее летучести. [31]
В противоположность оптической спектроскопии влияние сопутствующих элементов на интенсивность линий часто можно скорректировать расчетным путем. Для этого интенсивность флуоресценции определяемого элемента необходимо представить как функцию содержания сопутствующего элемента. [32]
В методах оптической спектроскопии используют излучение УФ - и видимой областей оптического диапазона. Оно соответствует изменению энергии валентных электронов. Ввиду того, что строение уровней валентных электронов для свободных атомов и молекул совершенно различно, для получения оптических атомных спектров необходима предварительная атомизация пробы - перевод ее в газообразное атомарное состояние. Для этой цели служат атомизаторы - источники высокой температуры различной конструкции. [33]
Следуя традиции оптической спектроскопии, при теоретическом рассмотрении мы всегда используем угловые частоты, но численные значения приводим в шкале циклических частот в герцах. [34]
![]() |
Спектр электромагнитных колебаний. [35] |
По изучаемым объектам оптическая спектроскопия подразделяется на атомную н молекулярную. [36]
Из различных видов оптической спектроскопии инфракрасная спектроскопия используется в настоящее время химиками-органиками наиболее часто благодаря ее универсальности, возможности прямого и независимого определения ряда важных функциональных групп и структурных фрагментов в небольших количествах исследуемого вещества при любом его агрегатном состоянии и без сколько-нибудь существенного ограничения физико-химических свойств. [37]
Все используемые в оптической спектроскопии источники излучения являются излучателями непрерывного спектра. Для инфракрасной спектроскопии, а также для спектроскопии в видимой области, используют раскаленные излучатели; для ультрафиолетовой спектроскопии - специальные газоразрядные лампы. Распределение интенсивности излучения по спектру для идеального термического излучателя описывается законом Планка для излучения энергии абсолютно черным телом. В широком диапазоне частот интенсивность излучения различна. Особенно мала она в самом конце длинноволновой области; после прохождения максимума, ближе к концу коротковолновой области, интенсивность излучения быстро падает. Радиационные свойства излучателя и положение максимума интенсивности определяются температурой, химическим составом и состоянием поверхности этого излучателя. [38]
При обсуждении применимости оптической спектроскопии к исследованию каталитических систем удобно рассмотреть отдельно основные категории, которые могут быть изучены, а именно адсорбент и адсорбат, причем последний можно далее подразделить на физически и химически адсорбированный. [39]
![]() |
Принципиальная схема спектрофотометра. [40] |
В основе всей оптической спектроскопии лежат общие законы, дающие соотношение между величиной поглощения и количеством поглощаемого вещества. [41]
![]() |
Принципиальная схема спектрофотометра. [42] |
В основе всей оптической спектроскопии лежат общие законы, дающие соотношение между величиной поглощения и количеством поглощающего вещества. [43]
![]() |
Принципиальная схема спектрофотометра. [44] |
В основе всей оптической спектроскопии лежат общие законы, дающие соотношение между величиной поглощения и количеством поглощаемого вещества. [45]