Cтраница 1
Способ освещения щели и сорт фотопластинок стараются выбрать так, чтобы почернение линий попадало в линейную область характеристической кривой эмульсии при продолжительности экспозиции от 15 сек АО 1 - 2 мин. Как правило, обжиг продолжается не более нескольких десятков секунд. Если закон изменения во времени интенсивности линий различных элементов не совпадает и для каждого из них требуется особый обжиг, то их определяют раздельно. [1]
Выбор способа освещения щели спектрографа в значительной степени определяется целями и особенностями выполняемой работы. Для количественного спектрального анализа требуется равномерное освещение щели. Если проводится изучение пространственной структуры источника света ( например, распределения температуры, концентрации электронов по различным зонам облака светящейся плазмы), щель нужно осветить так, чтобы распределение освещенности по ее высоте совпадало с распределением яркости в источнике света. При любом способе освещения щели правильные результаты измерений интенсивностей спектральных линий могут быть получены лишь в том случае, если освещенности в сопряженных точках щели и ее изображения пропорциональны. [2]
Рассмотрим сначала влияние способа освещения щели на распределение освещенности в поперечном сечении изображения спектральной линии. [3]
Jt -, п зависит от способа освещения щели. При некогерентном освещении ( со s - - i) происходит сложение пнтенснвностей главных максимумов ( см. j кс. [4]
Оценка, получаемая с данным ступенчатым ослабителем зависит от способа освещения щели спектрального прибора и от чувствительности приемника света. При фотографической регистрации оценка зависит от чувствительности и контраста пластинок. [5]
Дополнительную трудность создает то, что вид функции аппарата а ( х) определяется не только параметрами самой установки, но и способом освещения щели: вид этой функции изменяется в зависимости от степени когерентности света, падающего на щель. [6]
Дополнительную трудность создает то обстоятельство, что вид аппаратной функции А ( х) определяется не только параметрами самого спектрографа, но и способом освещения щели: он изменяется при изменении степени когерентности света, падающего на щель. [7]
Способ освещения щели должен обеспечивать освещение каждой ее точки всеми точками источника света и отсутствие виньетирования. [8]
![]() |
Освещение щели с помощью растрового конденсора ( вертикальное сечение. [9] |
Источник света - газоразрядная трубка сделана в виде длинного капилляра со стенками, прозрачными в рабочей области. Какой способ освещения щели спектрального аппарата следует выбрать. [10]
![]() |
Освещение щели без конденсора. 1 - источник света. S - щель. D - коллиматор. [11] |
Этот максимальный световой поток от источника удается использовать лишь в том случае, если источник света достаточно однороден, велик и расположен близко от щели. Существует несколько способов освещения щели спектрального прибора, назовем основные. [12]
![]() |
Распределение интенсивности по контуру спектральной линии.| Схема освещения щели непосредственно источником света. [13] |
Для количественного анализа необходимо получить равномерное освещение щели всеми точками источника. Осветительная система спектрографа должна воспроизводить оба способа освещения щели. Независимо от вида спектрального анализа осветительная система должна обеспечивать максимальное использование разрешающей способности и светосилы прибора. Рассмотрим несколько схем освещения щели. [14]
Мерой интенсивности служит электрический сигнал на выходе фотоэлектрического приемника, пропорциональный световому потоку. Световой поток, поступающий на фотоэлектрический приемник от аналитической линии, пропорционален ее интенсивности и зависит от светосилы прибора, размеров его щелей и способа освещения щели. При условии, что все факторы, влияющие на величину электрического сигнала, кроме интенсивности, достаточно стабильны, он представляет интенсивность в условных единицах. [15]