Оптический способ

Cтраница 3

Плоскостность проверяют оптическим способом, который заключается в интерференции света, проходящего через стандартную ( ГОСТ 2923 - 59) стеклянную пластинку ПИ, наложенную на контролируемую поверхность / При этом возникают так называемые кольца Ньютона. Каждое кольцо соответствует отклонению от плоскостности 0 3 мкм. [31]

Плоскостность проверяют оптическим способом, который заключается в интерференции света, проходящего через стандартную ( ГОСТ 2923 - 59) стеклянную пластинку ПИ, наложенную на контролируемую поверхность. При этом возникают так называемые кольца Ньютона. Каждое кольцо соответствует отклонению от плоскостности 0 3 мкм. [32]

Плоскостность проверяют оптическим способом, который заключается в интерференции света, проходящего через стандартную ( ГОСТ 2923 - 75) стеклянную пластинку ПИ, наложенную на контролируемую поверхность. При этом возникают так называемые кольца Ньютона. Каждое кольцо соответствует отклонению от плоскостности 0 3 мкм. [33]

Проверка соосности оптическим способом: / - коллиматор; 2-телескоп; 3 - переходная втулка. [34]

Также широко применяется оптический способ управления процессом кристаллизации с использованием пирометра, фокусируемого на поверхность мениска. Оптический пирометр фиксирует не только колебания температуры, но и изменение профиля мениска. [35]

Был предложен также оптический способ введения информации - засветка с помощью сфокусированного луча или равномерного облучения. В обоих случаях используется свет из области собственного поглощения. Поскольку время дрейфа через обедненную область весьма мало, то время ввода заряда в световой ПЗС лимитируется временем диффузии электронно-дырочных пар из нейтрального объема полупроводника к ОПЗ. [36]

Этим отличается применение оптического способа для контроля соосности частей турбины от задач, которые ставятся перед оптическим способом при выверке по высотным отметкам ( см. гл. [37]

Если компенсация проводится оптическим способом и прибор имеет монохроматор, то флуктуации источника излучения не имеют значения. Поскольку фотоэлектрический элемент здесь служит только для установления равенства двух световых пучков, уже не важно, будет ли сила фототока пропорциональна интенсивности падающего света или нет. И усиление тока не должно быть обязательно линейным. Поскольку в таком приборе оба пучка света падают на одну и ту же точку фотоэлектрического элемента и почти в одно время, условия сравнения интенсивностей двух световых пучков здесь наилучшие. [39]

Размер отпечатка измеряют оптическим способом, для чего образец разгружают и индентор убирают. [40]

Изменения спектров растворов в СНС13 хлорангидридов L ( 1 и LII (. при добавлении в раствор силикагеля ( 2, 2 и силикагеля, насы-шейного ( С2Н6 2О - А1С ] д ( 3, 3. [41]

Интересно отметить, что оптический способ контроля реакции силикагеля с эфиратом А1С13 дает возможность определить наличие или отсутствие эфира, который мог бы выделяться в этом: процессе. [42]

Проверка правильности стыковки обечаек с помощью светового луча. [43]

Более точные результаты дает оптический способ проверки положения оси вращения печи ( рис. 7.48), сущность которого заключается в следующем. Внутри печи на определенном пролете устанавливаются две стойки. На стойке 1 крепится оптическая система, на стойке 3 - мишень. Центры оптической системы и мишени устанавливаются по оси вращения печи. Эту ось принимают за базу инструментальной выверки. [44]

Поэтому следует отдать предпочтение различным оптическим способам, среди которых для указанной цели наиболее удобен метод, использующий интерференцию света [4, 44], так как он дает возможность производить непрерывные измерения с минимальным возмущающим действием на объект. При этом методе измерения требования к однородности геометрии пленки минимальны, метод имеет хорошую чувствительность. Недостатком является необходимость знать коэффициент преломления в пленке. Вследствие изменения концентрации по высоте пленки эта величина неопределенна, однако ошибка не превышает нескольких процентов. Другим ограничением является необходимость проведения измерений на оптически полированных поверхностях, микронарушения которых меньше длины волны света. [45]

Страницы: 1 2 3 4