Рентгенографический способ
Cтраница 1
Рентгенографический способ применяют для обнаружения металлических включений размером 10 - 20 мкм в изолирующих керамических слоях многослойных цилиндрических металлокерамиче-ских изделий, применяемых в электронной промышленности. С помощью рентгенотелевизионного интроскопа МТР-ЗИ можно обнаружить дефекты многослойных печатных плат; КЗ между дорожками из-за недотравления или растекания припоя между слоями; уменьшение и увеличение ширины дорожек, их разрывы; отсутствие и неравномерность покрытия припоем или серебром; расслоения диэлектрика и отслоения дорожек; смещение контактных площадок относительно отверстий. Для обеспечения высокого качества и надежности печатных плат, особенно многослойных, необходимо контролировать толщину металлизации отверстий в них, как монтажных, так и соединительных. [1]
 |
Углы рассеяния характеристического излучения в германии и кремнии ( излучение. [2] |
Рентгенографический способ ориентации основан на том, что интенсивность рассеяния рентгеновских лучей плоскостями кристалла зависит от плотности упаковки атомов в каждой плоскости. Для наиболее плотно упакованной плоскости ( 111) должна наблюдаться и наибольшая интенсивность рассеяния. [3]
Исследования феноло-формальдегидных смол рентгенографическим способом показали, что эти вещества, обычно рассматриваемые как аморфные, имеют на рентгенограммах сияния, вызы-ваемые некоторой ориентированностью молекул. [4]
На рис. 5 приведены определенные рентгенографическим способом кривые изменения количества остаточного аустенита в ходе испытания. Из них видно, что О бщее количество остаточного аустенита уменьшается с увеличением времени испытания. [5]
Напряжения II и III рода дезориентированы, их можно определять рентгенографическим способом. [6]
Одним из основных недостатков бетатронного излучения является невысокая интенсивность излучения, а также небольшая площадь просвечивания за одну экспозицию при рентгенографическом способе контроля. [7]
При облучении ( при комнатной температуре) акрилами-да - у-лучами с последующим удалением метанола из зоны реакции образуется полимер, внешне сохраняющий первоначальную кристаллическую структуру, однако рентгенографическим способом показано, что структура его аморфна. [8]
Межмолекулярное расстояние, на которое действуют эти силы, оценивается различно разными авторами. При рентгенографическом способе исследования расстояние между двумя молекулами твердого или жидкого вещества оказывается равным 3 - 4 А. [9]
 |
Величина молекулярной когезии некоторых групп атомов. [10] |
Межмолекулярное расстояние, на которое действуют эти силы, оценивается различно разными авторами. При рентгенографическом способе исследования расстояние между двумя молекулами твердого или жидкого вещества оказывается равным 3 - 4 А. [11]
 |
Рентгенограммы двуокиси марганца. [12] |
Особенности строения кристаллической решетки играют - существенную роль для характеристики качества двуокиси марганца как активного вещества источников тока. Строение кристаллов определяют рентгенографическим способом. Расстояние между плоскостями в кристалле ( межплоскостные расстояния), измеряемые в ангстремах А, позволяют отнести образец к той или иной модификации. Расстояния между плоскостями в кристалле соответствуют промежутку между линиями на рентгенограмме. [13]
Напряжения первого рода уравновешиваются в пределах объемов данного тела. Такие напряжения определяются механическим или рентгенографическим способом. [14]
Напряжения первого рода уравновешиваются в пределах крупных объемов данного тела. Такие напряжения определяются механическим или рентгенографическим способом. [15]
Страницы: 1 2