Осциллографический способ

Cтраница 1

Осциллографический способ имеет значительные недостатки: необходимость высокостабильного перестраиваемого источника образцовой частоты, ограниченность верхнего предела измеряемых частот, значительную длительность процесса измерения. [1]

К определению кратности частот. [2]

Осциллографический способ пригоден для любых частот в пределах полосы пропускания электронно-лучевой трубки. Измерение можно производить при линейной, синусоидальной и круговой развертках. [3]

Осциллографический способ измерения частоты можно применить при линейной, синусоидальной и круговой развертках. [4]

Схема для определения динамических характеристик осцил-лографнческим способом. [5]

Осциллографический способ испытания магнитных материалов нагляден и прост. Он дает возможность визуально наблюдать и фотографировать динамические кривые в весьма широком диапазоне частот. Кроме того, он позволяет наблюдать характер влияния различных факторов ( например, подмагничивания постоянным полем) и изменений режима намагничивания на форму и размеры динамической петли. [6]

Определение магнитных характеристик при помощи электронного осциллографа. [7]

Осциллографический способ испытания ферромагнитных материалов нагляден и прост. Он дает возможность визуально наблюдать и фотографировать динамические кривые в весьма широком диапазоне частот. Кроме того, он позволяет наблюдать характер влияния различных факторов ( например, подмагничивания постоянным полем) и изменений режима намагничивания на форму и размеры динамической петли. [8]

Осциллографический способ испытания магнитных материалов нагляден и прост. Он дает возможность визуально наблюдать и фотографировать динамические кривые в весьма широком диапазоне частот. Кроме того, он позволяет наблюдать характер влияния различных факторов ( например, под-магничивания постоянным полем) и изменений режима намагничивания на форму и размеры динамической петли. [9]

Определение динамических характеристик при помощи потенциометра переменного тока. [10]

Осциллографический способ испытания магнитных материалов нагляден и прост. Он дает возможность визуально наблюдать и фотографировать динамические кривые в весьма ншроком диапазоне частот. Кроме того, он позволяет наблюдать характер влияния различных факторов ( например, подмагничивания постоянным полем) и изменений режима намагничивания на форму и размеры динамической петли. [11]

Осциллографический способ испы тания магнитных материалов нагляден и прост. Он дает возможность визуально наблюдать и фотографировать динамические кривые в весьма широком диапазоне частот. Кроме того, он позволяет наблюдать характер влияния различных факторов ( например, под-магничивания постоянным полем) и изменений режима намагничивания на форму и размеры динамической петли. [12]

Схемы для определения динамических характеристик при помощи моста Хэя ( а и резонансного моста ( б. [13]

Осциллографический способ определения характеристик магнитных материалов применяется для разбраковки образцов по форме петли. [14]

Осциллографический способ снятия статических характеристик электронных ламп очень удобен, так как построение этих характеристик по точкам трудоемко. В отдельных случаях строить характеристики по точкам невозможно, поскольку при некоторых соотношениях напряжений на электродах ламп, если они сохраняются длительное время, лампа может выйти из строя. [15]

Страницы: 1 2 3