Cтраница 1
Фотоэлектрический способ регистрации основан на фотоэлектрическом эффекте - преобразовании лучистой энергии в электрическую. [1]
При количественном анализе целесообразно использовать фотоэлектрический способ регистрации спектров поглощения. Существует несколько таких способов, специфических для ВЛС. Один из них заключается в применении резонансных детекторов на основе атомарных или молекулярных сред, флуоресцирующих под действием поглощаемого лазерного излучения. [2]
Наиболее широко распространены фотоэлектрические спектрометры ( полихроматоры, или квантометры) с фотоэлектрическим способом регистрации спектров. Эти приборы имеют на выходе щель, на которую последовательно выводят аналитические линии всех определяемых элементов, что ограничивает скорость анализа. Для одновременного определения содержания всех элементов в анализируемой пробе необходимо выделить из спектра соответствующее число линий разных элементов. Для этого в фокальной плоскости квантометра устанавливают соответствующее число выходных щелей. [3]
![]() |
Поле зрения спект - сивности и в интерференционном коль-рографа, соединенного с эта - Це почти повторяет распределение ин-лоном Фабри и Перо тенсивности в самой спектральной ли. [4] |
В Международном бюро мер и весов интерферометр Майкельсона, усовершенствованный Пераром и Терриеном и снабженный новейшим фотоэлектрическим способом регистрации интерференционной картины, и в настоящее время используется при самых точных исследованиях контуров спектральных линий. Однако интерферометр Майкельсона позволяет построить контур спектральной линии при изменении разности хода в интерферометре передвижением зеркала, и при таком анализе контура приходится выполнять довольно сложные математические преобразования. [5]
![]() |
Теплопроводность олова по данным. [6] |
Измерения температуропроводности сводятся к регистрации колебаний температуры боковой поверхности цилиндрического образца; для этой цели удобно использовать бесконтактный, фотоэлектрический способ регистрации. Величина температуропроводности при этом может быть найдена двумя независимыми путями - по разности фаз между колебаниями температуры и изменениями мощности в индукторе высокочастотной печи и по частотной зависимости амплитуд колебаний температуры. Знания абсолютных значений амплитуды колебаний в обоих способах не требуется. [7]
Здесь еще раз надо подчеркнуть, что этот метод испытания неоднородности материала, предназначенного для изготовления эталонов, может быть рекомендован только при фотоэлектрических способах регистрации спектра. [8]
Длину поглощающего слоя ( внутреннюю толщину кюветы) следует выбирать такой, чтобы в максимуме полосы поглощения оптическая плотность образца находилась в пределах 0 3 - 0 5 при фотоэлектрических способах регистрации и 1 5 - 2 при фотографической спектрофо-тометрии. [10]
Исследования в этой области развиваются в двух направлениях. Одно из них связано с фотоэлектрическими способами регистрации спектров и реализовано в различного типа квантометрах, выпускаемых многими фирмами. Другое основано на автоматизации фотографических способов регистрации спектра, однако применяется в спектральных лабораториях весьма слабо. [11]
При общепринятом методе фотографической регистрации измеряется освещенность, создаваемая данным источником света в фокальной плоскости прибора. При фотоэлектрическом способе регистрации измеряется световой поток, выходящий из прибора и попадающий на светочувствительный слой приемника излучения. Рассмотрим, какими параметрами прибора определяется его светосила в каждом из этих случаев. [12]
![]() |
Величина полного поглощения при неполном разрешении контура. [13] |
Фюхтбауэра была вызвана в действительности влиянием давления постороннего газа на упругость паров ртути. Метод проверки, использованный этими авторами, заключался в том, что сжатый газ при постоянном давлении и постоянной температуре насыщался парами ртути, а затем при той же температуре расширялся до давления 15 атм. Величины интегрального коэффициента поглощения, измеренные для газа в сжатом и расширенном состояниях ( с учетом коэффициента расширения), совпали в пределах ошибок эксперимента, подтверждая неизменность силы осциллятора. Точность измерений была достаточно высокой, так как применялся фотоэлектрический способ регистрации. [14]
Для измерения физической ширины спектральных линий, излучаемой источником линейчатого спектра, используются спектральные приборы высокого разрешения. Ранее мы подробно рассмотрели характеристики и конструкцию интерферометра Фабри-Перо, который широко используется для такого рода измерений. При этом можно применять как фотографический, так и фотоэлектрический способ регистрации интерференционной картины. Известно, что ИФП является прибором узких спектральных интервалов и поэтому требует, как правило, дополнительной монохроматизации. [15]