Разрешающая способность - решетка
Cтраница 1
Разрешающая способность решетки определяет минимальную разность длин волн 6Х двух излучений с длинами волн X ] и X2 Xi - - 6X ( 6XcXi), главные дифракционные максимумы fe-ro порядка для которых воспринимаются раздельно. [1]
Разрешающая способность решетки пропорциональна общему числу штрихов в решетке и порядку спектра. [2]
К разрешающая способность решетки зависит только от ее ширины. [3]
Малая разрешающая способность решетки не является единственной причиной расширения дифракционных линий. Аналогичное расширение может происходить и благодаря наличию несовершенств кристаллической решетки, возникающих, в частности, у металлов в результате пластической деформации. В таких случаях кристалл рассматривают как мозаику из малых блоков, слегка повернутых друг относительно друга и поэтому рассеивающих лучи независимо друг от друга. [4]
Поскольку разрешающая способность решетки растет с числом освещенных пучком штрихов, сечение пучка нередко расширяют с помощью телескопа. [5]
Вычисляют разрешающую способность решетки. [6]
Следовательно, разрешающая способность решетки пропорциональна порядку спектра и общему числу штрихов решетки, участвующих в дифракции. [7]
Методы измерения разрешающей способности решеток сводятся к определению разности длин волн двух близко расположенных спектральных линий приблизительно равной интенсивности, находящихся на пределе разрешения. Чаще всего разрешающую способность оценивают по наблюдениям сверхтонкой структуры спектральных линий кадмия и ртути, некоторых групп линий спектра железа или полос поглощения паров иода, а также по расщеплению спектральных линий в магнитном поле. Однако выбор линий, пригодных для этих целей, очень ограничен, а процедура измерения при высоких разрешениях достаточно сложна. На точность измерений этими методами влияют не только ошибки решетки, но и аберрации оптической системы спектрографа, а также естественная ширина контура линии. Кроме того, с ростом фокусного расстояния спектрографа возрастает влияние колебаний воздуха и отдельных элементов системы, что создает дополнительные трудности при наблюдениях и снижает их точность. При наиболее благоприятных условиях измерений относительная ошибка определения разрешающей способности составляет 5 - 10 %, что в некоторых случаях недостаточно для характеристики решетки по этому параметру. Поэтому непосредственные наблюдения спектральных линий дополняются исследованиями формы фронта дифрагированной волны теневым и интерференционным методами, которые взаимно дополняют друг друга. [8]
Что называется разрешающей способностью решетки. [9]
Таким образом, разрешающая способность решетки при заданном числе штрихов увеличивается при переходе к спектрам высших порядков. [10]
 |
График функции 1г ( v sins Nv / s n v. [11] |
Таким образом, разрешающая способность решетки в данном порядке зависит только от общего числа штрихов. [12]
Может ли быть улучшена разрешающая способность решетки для данной длины волны. [13]
Рассчитать по формуле (40.2) разрешающую способность решетки для дифракционных максимумов первого и третьего порядков, приняв ширину решетки 20 мм. [14]
 |
Замена одной приз - Такую же независимость угло. [15] |
Страницы: 1 2 3 4