Cтраница 2
Показать, что для данной X максимальная разрешающая способность дифракционных решеток, имеющих разные периоды, но одинаковую длину, имеет одно и то же значение. [16]
Объясните, как используется критерий Рэлея при выводе формулы для разрешающей способности дифракционной решетки. [17]
Это частота падающего на прибор светового потока, отсчитанная от частоты настройки прибора и измеренная в единицах, равных предельной разрешающей способности дифракционных решеток, установленных в сисаме. [18]
Вместо призм в спектрометрах все чаще применяются дифракционные решетки, и уже ряд фирм прекратил производство инфракрасных спектрометров, в которых в качестве главного диспергирующего элемента используется призма. Разрешающая способность дифракционных решеток значительно выше, чем призм, а с тех пор как стали использовать отражательные решетки, проблема низкой пропускаемости решеток не возникала. [19]
В настоящее время призмен-ные кварцевые спектрографы большой дисперсии выходят из употребления и заменяются дифракционными. Высокая разрешающая способность дифракционной решетки используется благодаря большому фокусному расстоянию камерного объектива. [20]
Когда два одинаковых точечных источника разрешимы по Рэлею. От чего зависит разрешающая способность дифракционной решетки и как вывести формулу для ее определения. Почему для получения голограммы кроме предметной волны необходима еще и опорная волна. [21]
![]() |
Дифракция на прозрачном эшелоне Майкельсона. [22] |
Однако только немногие уникальные решетки имеют число штрихов выше 200 000, а большинство обычных решеток имеет около 75 000 - 100 000 штрихов. Кроме того, в высших порядках интенсивность спектральных линий резко падает, поэтому на практике обычно не пользуются порядками выше четвертого. Отсюда следует ограниченность разрешающей способности дифракционной решетки. [23]
Величина А / ДА называется разрешающей способностью дифракционной решетки. Действительно, чем меньше ДА при данной длине волны А, тем более близкие линии можно будет наблюдать раздельно в дифракционном спектре. Формула ( 13) показывает, что разрешающая способность дифракционной решетки пропорциональна числу штрихов на ней. [24]
Спектрометр СИСАМ1) - это интерферометр Майкельсона, в котором два зеркала заменены двумя одинаковыми отражательными дифракционными решетками ( или призмами Литтрова), установленными под равными углами ф к оси; поэтому падающие пучки света, для которых mh / d 2sinq) ( т - номер порядка; d - постоянная решетки), будут отражаться точно назад, тогда как пучки света с другими длинами волн рассеиваются под разными углами. Таким образом, спектрометр СИСАМ представляет собой интерферометр Майкельсона, настроенный для длин волн, удовлетворяющих данному соотношению, и расстроенный для всех других длин волн. В интерференционной картине спектрометра содержатся только эти длины волн; спектральная ширина полос соответствует теоретической разрешающей способности дифракционных решеток, а интенсивность полосы совпадает с соответствующей величиной для интерферометра Майкельсона. [25]
![]() |
Пропускание идеального эталона Фабри - Перо в максимуме. [26] |
Для определения разрешающей силы эталона нельзя воспользоваться критерием Рэлея, так как в кривой интенсивности ( рис. 62) отсутствуют дополнительные максимумы и минимумы, характерные для призмы и дифракционной решетки. Поэтому в качестве критерия разрешения можно взять такое расстояние между линиями, когда глубина провала в минимуме суммарной кривой интенсивности, даваемой двумя близкими линиями одинаковой интенсивности, равна 0 2 от интенсивности в максимуме. Вычисленная таким образом разрешающая способность дает возможность правильно сравнивать разрешающую способность эталона с вычисленной по Рэлею разрешающей способностью дифракционной решетки или призмы. [27]
В инфракрасных спектрометрах обычно применяют отражательные дифракционные решетки, которые получают путем нанесения штрихов на металлическое зеркало. Современные дифракционные решетки имеют от нескольких сотен до нескольких тысяч штрихов на миллиметр. Дифракционная решетка распределяет излучение на большое число спектров различных порядков интерференции. Разрешающая способность дифракционной решетки в пределах первого порядка интерференции равна полному числу штрихов, участвующих в дифракции, и не зависит от длины волны, тогда как в призменных приборах она увеличивается в длинноволновой части спектра. [28]