Cтраница 1
![]() |
Газоразряд - 4200 А. В случае необходимости это осложнение ная тру ка еисслера устраняется заключением дуги в кожух, сод ер. [1] |
Разрешающая способность спектрографа с решзткой определяется уравнением R mn, где m - спектральный порядок, а п - число линий в решетке. [2]
![]() |
Большой дифракционный спектрограф типа ДФС-3 с отражательной плоской решеткой. [3] |
Разрешающая способность спектрографа от кривизны линий и их наклона зависит мало, однако это создает некоторые неудобства в работе. [4]
Разрешающая способность R спектрографа должна быть больше, чем А / ДА ( А / А) ( 1 - COS0) 1 A / ( 2Asin2 0 / 2), где А - комптоновская длина волны. Величину R можно оценить по формуле R mTV, где т - порядок интерференции ( в нашем случае т 1), N - число интерферирующих лучей, равное b / d, Ъ - толщина кристаллической пластинки. [5]
Разрешающая способность локального нелинейного спектрографа при использовании достаточно высокоразрешающей спектральной аппаратуры видимого диапазона определяется шириной спектра накачки [117, 236] и при использовании стабилизированных одночастотных лазеров накачки может быть существенно выше, чем для интегрирующего спектрографа. [6]
Реальная разрешающая способность спектрографов меняется примерно пропорционально линейной дисперсии. Для приборов небольшой дисперсии с короткофокусными объективами камеры разрешение ограничивается фотографической пластинкой. Повышение разрешающей способности пластинок позволяет получить более хорошее разрешение линий. [7]
Реальная разрешающая способность спектрографа зависит, кроме свойств его оптической системы, также от свойств применяемого фотоматериала. Благодаря зернистой структуре фотослоя в нем происходит рассеяние света, что приводит к дополнительному уширению изображений щели на спектрограмме. [8]
Реальная разрешающая способность спектрографов меняется примерно пропорционально линейной дисперсии. Для приборов небольшой дисперсии с короткофокусными объективами камеры разрешение ограничивается фотографической пластинкой. Повышение разрешающей способности пластинок позволяет получить более хорошее разрешение линий. В приборах с большим фокусным расстоянием камерного объектива разрешающая способность ограничивается, главным образом, качеством изготовления оптических деталей. [9]
С вопросом о разрешающей способности спектрографа связано понятие о ширине спектральной линии. [10]
![]() |
Ход лучей в масс-спектрографе Астона. [11] |
Применение фильтра скоростей действительно повышает разрешающую способность спектрографа, но фильтр чядррживяет большинство ионов и тем самым сильно уменьшает интенсивность ПУЧКЗ. В связи с этим в современных масс-спектрографах фильтры скоростей применяются редко. Было бы, разумеется, очень желательно, не уменьшая разрешающей способности, использовать в масс-спектрографах ионы разных скоростей. [12]
При этом, как показал В. Н. Протопопов, разрешающая способность спектрографа с асимметричным ходом лучей в области длин волн от 2000 до 2500Х оказывается лишь в два раза меньшей, чем в двойном кристалл-спектрографе. Особенно целесообразно сочетание метода косых плоскостей с методом изгиба кристалла по Иогансону. Это может позволить не только еще больше повысить разрешающую способность спектрографа, но и повысить его светосилу вследствие увеличения размеров отражающего кристалла, причем при использовании метода Иогансона это не приводит к нарушению фокусировки пучка рентгеновских лучей в приборе. Очевидно, что при прочих равных условиях увеличение интенсивности спектров будет тем больше, чем больше размер изогнутого кристалла. [13]
Выше при рассмотрении роли дисперсии предполагалось, что разрешающая способность спектрографа неограниченна. Однако основным фактором практически определяющим чувствительность анализа, является разрешающая способность. [14]
От каких величин, характеризующих призму, зависит разрешающая способность призмениого спектрографа. Почему разрешающая способность максимальна при симметричной установке призмы. [15]