Проникающая способность - рентгеновское излучение
Cтраница 2
Рассмотрим прохождение через кристалл пучка рентгеновских лучей с длиной волны К. Ввиду значительной проникающей способности рентгеновского излучения большая часть его проходит через кристалл. Отраженные лучи интерферируют друг с другом, в результате чего происходит их взаимное усиление или погашение. Очевидно, что результат интерференции зависит от разности хода б лучей, отраженных от соседних параллельных плоскостей. Усиление происходит в том слу чае, когда 8 равно целому числу длин волн, тогда отраженные волны будут в одинаковой фазе. Как видно из рис. 1.77, луч Si отраженный от плоскости атомов PI, проходит меньший путь, чем луч 5г, отраженный от соседней плоскости Р % разность этих путей равна сумме длин отрезков АВ и ВС. [16]
 |
К выводу уравнения Брегга - Вульфа. [17] |
Рассмотрим прохождение через кристалл пучка монохроматических рентгеновских лучей с длиной волны К. Ввиду значительной проникающей способности рентгеновского излучения большая часть его проходит через кристалл. [18]
Определенные требования предъявляются также и к параметрам рентгеновских трубок ( /) и прежде всего к значениям напряжения и анодного тока. От напряжения, приложенного к трубке, зависит проникающая способность рентгеновского излучения, а от тока - интенсивность этого излучения. [19]
В конце каждого цикла ускорении пучок ускоренных электронов можно либо вывести через окно за пределы вакуумной камеры, либо направить па металлич. При торможении электронов в мишени возникает рентгеновское излучение, используемое для дефектоскопии металлич. Для целей дефектоскопии электроны ускоряются до энергий 20 - 30 Мае, поэтому проникающая способность рентгеновского излучения В. Техника бетатронной дефектоскопии аналогична технике рентгенодефек-шоскопии И гамма-дефектоскопии, для сокращения времени экспозиции и повышения чувствительности используют флуоресцирующие усиливающие экраны и свинцовую фольгу толщиной 2 - 3 мм. Относит, чувствительность при просвечивании изделий толщиной 200 - 450 мм находится в пределах 2 - 1 5 % от толщины изделия, вследствие чего можно выявить дефекты с лучевыми размерами в 4 - 7 мм. Известны конструкции приборов - стереобетатро-нов, дающих два пучка излучения, направленных под углом друг к другу. Просвечивание прибором такого типа позволяет но только выявлять дефекты, но и определять глубину их залегания в изделии. [20]
Страницы: 1 2