Cтраница 1
Полусферическая отражательная способность сильно зависит от шероховатости поверхности при малых ее значениях; наоборот, при значительных величинах шероховатости ее влияние на величину полусферической отражательной способности почти не заметно. [1]
Согласно результатам точного расчета, полусферическая отражательная способность слоя несколько выше в случае зеркально отражающей границы, чем в случае диффузно отражающей границы; при оптической толщине, равной 15 и более, полусферическая отражательная способность почти такая же, как у полубесконечного слоя. Однако, согласно результатам, полученным в Pi-приближении, не существует различия в характере отражения ( зеркального или диффузного) на границе. Однако при значениях ю, близких к 1, и больших оптических толщинах Pi-приближение дает довольно хорошие результаты. [2]
![]() |
Схема, поясняющая механизм отражения, принятый в работе. 23 - 2025. [3] |
Представлены на рис. 14.9. В рассматриваемом случае полусферическая отражательная способность конденсироваиного твердого слоя Н2О возросла почти в два раза при переходе от аморфной структуры к более плотной кристаллической структуре. [4]
Полусферическая отражательная способность сильно зависит от шероховатости поверхности при малых ее значениях; наоборот, при значительных величинах шероховатости ее влияние на величину полусферической отражательной способности почти не заметно. [5]
Согласно результатам точного расчета, полусферическая отражательная способность слоя несколько выше в случае зеркально отражающей границы, чем в случае диффузно отражающей границы; при оптической толщине, равной 15 и более, полусферическая отражательная способность почти такая же, как у полубесконечного слоя. Однако, согласно результатам, полученным в Pi-приближении, не существует различия в характере отражения ( зеркального или диффузного) на границе. Однако при значениях ю, близких к 1, и больших оптических толщинах Pi-приближение дает довольно хорошие результаты. [6]
Работами Спэрроу было установлено также, что в пределах точности эксперимента при неизменном значении h и температуры имитатора черного излучения ( отражательная способность R находится при облучении образца излучением абсолютно черного тела) полусферическая отражательная способность не зависит от угла падения. [7]
Зеркальная отражательная способность уменьшается с ростом шероховатости как при малых, так и при высоких ее значениях, падая, в конечном счете, до очень малых величин отражательной способности. Величина полусферической отражательной способности почти не зависит от угла падения падающего излучения. Во всех случаях с увеличением температуры источника излучения отражательная способность понижается. [8]
Метод вставки применяют для получения дифференциальных уравнений для двунаправленных отражательной и пропускательной способностей при совместном использовании их с методом дискретных ординат. Рассмотрим задачу о нахождении двунаправленной отражательной и пропускательной способностей слоя снега. Эта задача связана с рассмотренной ранее задачей о слое изоляции, поскольку в пределе стремящегося к единице альбедо однократного рассеяния as рассеивающий слой получается таким же, как и находящийся в радиационном равновесии рассеивающе-переизлучающий слой. В этом случае слой ничего не поглощает, и полусферическая пропускательная способность становится равной разности единицы и полусферической отражательной способности. Полусферическая пропускательная способность идентична iFi - a, ь Для слоя, находящегося в радиационном равновесии. [9]