Излучение - источник
Cтраница 2
Излучение источника направляется на кювету с анализируемым веществом с помощью осветительной системы. Свет через кювету должен проходить параллельным пучком, поэтому источник устанавливают в фокусе первого конденсатора. Второй конденсор, расположенный после кюветы, собирает параллельный пучок и строит изображение источника на щели. [16]
 |
Кривые функций относительной спектральной световой эффективности монохроматического излучения для дневного V W и ночного V ( Л зрения. [17] |
Излучение источника распространяется в некотором телесном, угле. [18]
Излучение источника, отличающееся от того, которое задается положением призмы относительно щели, вследствие рассеяния внутри самого моно-хроматора может попадать в детектор и тем самым вызывать отклонения. Такое излучение обычно состоит из более коротких волн, которые легче рассеиваются и испускаются источником в наибольшей степени. [19]
 |
Принципиальная схема спектрального анализа. [20] |
Излучение источника света складывается из излучения атомов всех элементов, присутствующих в пробе. [21]
 |
Оптические схемы интроскопа. [22] |
Излучение источника света ( обычно лазера) цилиндрической линзой преобразуется в плоский поток с малой расходимостью. Дефекты материала, рассеивающие свет ( метод темного поля), визуализируют телекамерой, оптическая ось которой направлена ортогонально световой плоскости. При использовании ИК-лазера метод эффективен для исследования кристаллов кремния, фосфида индия, др. материалов микроэлектроники. Аналогичный метод, но с боковым расположением телекамеры, применяют для изучения структуры потоков газа или жидкости. [23]
Излучение источника белого секта занимает широкий спектральный диапазон. Максимумы интенсивности лри интерференции будут давать спектральные компоненты, для которых выполнено условие Д тЯ, минимумы - для которых выполнено условие Д ( т 1 / 2) Я, где т - целое число. [24]
 |
Типы спектров. [25] |
Излучение источника света складывается из излучения атомов всех элементов, присутствующих в пробе. Для анализа необходимо выделить излучение каждого элемента. Это осуществляют с помощью оптических приборов - спектральных аппаратов, в которых световые лучи с разными длинами волн отделяются в пространстве друг от друга. Излучение источника света, разложенное по длинам волн, называется спектром. [26]
 |
Оптические схемы интроскопа. [27] |
Излучение источника света ( обычно лазера) цилиндрической линзой преобразуется в плоский поток с малой расходимостью. Дефекты материала, рассеивающие свет ( метод темного поля), визуализируют телекамерой, оптическая ось которой направлена ортогонально световой плоскости. При использовании ИК-лазера метод эффективен для исследования кристаллов кремния, фосфида индия, др. материалов микроэлектроники. Аналогичный метод, но с боковым расположением телекамеры, применяют для изучения структуры потоков газа или жидкости. [28]
Излучение источника света, находящегося очень близко от границы раздела двух прозрачных сред. [29]
Излучение источника света И собирается с помощью кон-денсорной линзы Л на входную щель Щ1 коллиматора Jf. Из линзы Л1 выходит пучок параллельных лучей, который, пройдя призму П1, разлагается на монохроматические лучн. Эти лучи, пройдя линзу Л2, образуют в ее фокальной плоскости спектр. Выходная щель Щ2 располагается в фокальной плоскости объектива Л2 и выделяет из спектра узкую полоску монохроматического излучения. Щель Щ2 образована зеркалом 3 и ножом Я, которые монтируются на передвижном столике С. Благодаря передвижению щелий / а обеспечивается выделение из спектра монохроматических лучей с длиной волны от 400 до 700 нм. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5