Излучение - эталонный источник
Cтраница 1
 |
Блок-схема прибора. [1] |
Излучение эталонного источника попадает на тот же сцинтиллятор, минуя трубопровод. Потоки излучения основного и эталонного источников модулируются таким образом, что когда один из них полностью перекрыт поглощающим слоем свинца 7 и 8, другой полностью открыт. Благодаря этому на сцинтиллятор попадают попеременно потоки излучения основного и эталонного источников. Если эти потоки равны, то среднее количество импульсов фотоумножителя 9 и средний ток в его анодной цепи не меняются во времени. Когда их равенство нарушается, в анодной цепи фотоумножителя появляется переменная составляющая тока, амплитуда которой пропорциональна разности потоков излучения, а частота равна частоте модуляции этих потоков. Фаза переменной составляющей тока определяется соотношением потоков излучения. [2]
Интегральная чувствительность и пороговый поток фотодиодов измеряются по излучению эталонных источников. Если фотодиоды обладают чувствительностью в широком диапазоне спектра от видимого до инфракрасного, то их характеристики измеряются по воздействию потока излучения сравнительно низкотемпературных эталонных источников. [3]
Интегральная чувствительность и пороговый поток фотодиодов измеряются по излучению эталонных источников. [4]
Интерферометр Фабри-Перо применяется в метрологии для сравнения длины волны излучения эталонного источника с длинами волн других спектральных линий. [5]
Как уже указывалось, основные характеристики фоторезисторов измеряются по излучению эталонных источников. [6]
 |
Вариант схемы включения фоторезистора на вход усилителя. [7] |
Как уже указывалось, основные характеристики фоторезисторов измеряются по излучению эталонных источников. Применительно к фоторезисторам, чувствительным к излучению видимого или ближнего инфракрасного диапазонов спектра, такими излучателями являются источники с температурами 2850, 2500 и 2360 К. Характеристики приемников, обладающих чувствительностью к инфракрасному излучению, измеряются по источникам ( АЧТ) с температурами 573 и 373 К. [8]
 |
Схема включения ионизационной камеры в режиме счета частиц. [9] |
Относительный метод измерения заключается в сравнении результатов измерений исследуемого излучения и излучения эталонного источника. В этом случае требуется предварительная калибровка камеры, для чего измеряют излучение эталонного источника, величина радиоактивности и другие параметры излучения которого известны, и составляют калибровочную кривую. [10]
Таким образом, световой пороговый поток ФЭУ-67 по солнечному излучению примерно втрое меньше, чем по излучению эталонного источника. [11]
Приводимые в паспортах и справочниках значения интегральной чувствительности и порогового потока приемников измеряются по воздействию светового потока или потока излучения эталонного источника. [12]
 |
Серия марочных спектрограмм эталонного источника ( а и спектрограмма исследуемого излучения ( б.| Серия характеристических кривых почернений, полученная по спектрограмме эталонного источника. [13] |
Фотографический метод спектров сравнения должен осуществляться таким образом, чтобы возможно было сравнить для каждой длины волны интенсивность неизвестного излучения с интенсивностью известного излучения эталонного источника. [14]
Эти характеристики обычно даются в паспортах и справочных таблицах. Они измеряются при вполне определенных условиях ( по излучению эталонных источников, при фиксированной частоте модуляции лучистого потока и усилителе с заданной шириной полосы пропускания), которые в большинстве случаев не совпадают с реальными условиями. Поэтому возникает необходимость расчета характеристик приемников, включенных на вход конкретных электронных схем, при работе по реальным излучателям. При этом в ряде случаев излучателями являются источники монохроматического излучения. Чтобы оценить применимость того или иного приемника, нужно знать его спектральную чувствительность и монохроматический пороговый поток или уметь их рассчитывать на основе паспортных данных. Иногда возникает необходимость оценить свойства приемника и рассчитать характеристики прибора, пользуясь квантовыми эффективностью и пороговой чувствительностью. И, наконец, очень часто возникает потребность оценки свойств приемника излучения и прибора в целом при наличии фоновых засветок. [15]
Страницы: 1 2 3