Излучение - фон
Cтраница 3
На практике, однако, относительная стандартная ошибка фотоэлектрического измерения излучения фона составляет около одного или даже несколько процентов. Такой разрыв между практической и теоретической точностью объясняется несовершенством методов устранения влияния флуктуации в источнике света на результаты фотоэлектрического измерения сигнала, а главное дрейфом чувствительности самих фотоэлектри - ческих приемников, который в процессе измерения может быть весьма значительным. [31]
 |
Градуировочные графики для определения Сг в ВаСО3 ( угольная дуга, проба-в аноде при разных методах фотоэлектрической регистрации ( я - отсчет измерительного прибора. [32] |
В работе [1169] показано, что, применяя двухлучевую систему регистрации излучения фона и излучения линии и фона на одном фртоумножителе, частотное модулирование сигналов и выделение их с помощью синхронно-фазового детектора, можно снизить предел обнаружения линии в 30 раз по сравнению с обычным способом фотоэлектрической регистрации. Утверждается, что таким путем можно измерять линии, интенсивность которых в 250 раз меньше интенсивности фона. Все приведенные данные свидетельствуют прежде всего о том, что обычные методы спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией часто неоптимальны и не используют все возможности регистрации слабых спектральных линий, заложенные в фотоэлектрических приемниках света. В этом смысле периодическое сканирование спектра несомненно является эффективным приемом оптимизации тех методов, в которых практические пределы обнаружения далеки от теоретически возможных, определяемых статистическими свойствами используемого фотоэлектрического приемника. [33]
 |
Градуировочные гра - го сканирования обеспечивает сниже-определения Сг ние предела обнаружения, достигаемого обычным методом анализа на фотоэлектрическом приборе ФЭС-1, в 50 - 25 раз. [34] |
В работе [1169] показано, что, применяя двухлучевую систему регистрации излучения фона и излучения линии и фона на одном фотоумножителе, частотное модулирование сигналов и выделение их с помощью синхронно-фазового детектора, можно снизить предел обнаружения линии в 30 раз по сравнению с обычным способом фотоэлектрической регистрации. Утверждается, что таким путем можно измерять линии, интенсивность которых в 250 раз меньше интенсивности фона. Все приведенные данные свидетельствуют прежде всего о том, что обычные методы спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией часто неоптимальны и не используют все возможности регистрации слабых спектральных линий, заложенные в фотоэлектрических приемниках света. В этом смысле периодическое сканирование спектра несомненно является эффективным приемом оптимизации тех методов, в которых практические пределы обнаружения далеки от теоретически возможных, определяемых статистическими свойствами используемого фотоэлектрического приемника. [35]
Вместе с тем красная граница ограничивает уровень помех, обусловленных флуктуацией излучения окружающего фона. [36]
Пр - ток рабочего сигнала; / ф - ток, вызванный излучением фона; / т - темновой ток. [37]
Уравнение дальности ( 109) при фотонном ограничении можно использовать, если влияние излучения фона и темнового тока незначительно. На практике, однако, некоторая часть фотоэлектронов всегда появляется за счет темнового тока и излучения внешних источников ( Солнца, Луны, звезд, облаков, нагретых тел), попадае-мых в поле зрения оптической системы приемного устройства и называемых фоном. [38]
Фоторезисторы обладают достаточной чувствительностью не только к излучению специальных источников, но и к излучению окружающего фона в широком диапазоне спектра. Поэтому даже в отсутствие излучения от специального источника в чувствительном элементе фоторезистора постоянно происходит процесс генерации носителей тока, приводящий к соответствующему изменению проводимости. Допустим, что на чувствительный элемент фоторезистора за одну секунду попадает п квантов. Если проследить за темпом поступления квантов в более короткие последовательные и равные интервалы времени, то можно заметить, что количество поступающих квантов в них различно, хотя, в среднем, при этом обеспечивается поступление п квантов за одну секунду. Эти случайные отклонения числа квантов от их среднего значения ( флюктуации) и обусловливают появление радиационного ( фотонного) шума фоторезисторов. [39]
При определении температуры изделий, находящихся в непосредственной близости от высоконагретых тел, необходимо учитывать излучение фона, отраженное от объекта контроля. [40]
Если обнаружение сигнала осуществляется при наличии фона, то наряду с полезным на приемник попадает излучение фона, которое приведет к возрастанию шумов и ухудшению пороговой чувствительности. [41]
В формуле ( 68) fei характеризует влияние дробового шума, вызванного сигналом, fea - излучения фона и темнового тока и кя - теплового шума. [42]
При работе в реальных условиях иа приемник, как правило, наряду с полезным излучением попадает излучение фона. [43]
ИКП; т) - коэффициент использования излучений фона ПИ; т, г - коэффициенты пропускания излучений фона оптикой и фильтром. [44]
Приемное устройство, функционирующее по методу прямого усиления, состоит из приемного объектива, оптического фильтра ( уменьшающего излучение фона) и ПЛЭ. Излучение ОКГ, используемое для передачи информации, модулируется по амплитуде или представляет собой последовательность импульсов. [45]
Страницы: 1 2 3 4