Cтраница 4
Двухпотоковая неустойчивость не может, по-видимому, объяснить наблюдаемое излучение электромагнитных волн при о - сор, происхождение которого хорошо объясняет теория усиления излучения, приведенная ранее в этом параграфе. Однако теория не объясняет сильного излучения на второй гармонике. [46]
Последние отличаются от рис. 5.12 наличием горизонтальных участков или горбов ( резонансных выбросов) и по форме подобны кривым, приведенным в [ 13, стр. Указанные аномалии объясняются, видимо, в основном сильным излучением СВЧ энергии из волновода через щель с пластиной ( служащей антенной в волноводе) при определенном ( резонансном) ее погружении Апг. [47]
При возбуждении искрового разряда непосредственно в пламени атомной абсорбции алюминия обнаружено не было, что объясняется автором высокой проводимостью пламени и в связи с этим ослаблением эффективности разряда. При распылении раствора непосредственно в искровой промежуток обнаруживается как сильное излучение резонансной линии Al 3944A, так и ее сильное поглощение. Полагая, что сигнал, на единицу больший m величине, чем уровень шумов может быть отнесен к поглощению резонансной линии, автор работы [85] устанавливает предел обнаружения алюминия предлагаемым им методом - 3.10 - 4 % по раствору. [48]
Термин ненагруженное Q может ввести в заблуждение, поскольку величины Q & очень малы. Нагрузка, однако, определяется не генератором и сопротивлением нагрузки, а сильным излучением резонансной системы. Ненагруженное Q возрастает с уменьшением расстояния между полоской и заземленной пластиной, а резонансная частота сдвигается в сторону меньших значений. [49]
![]() |
Спектры излучения различных современных люминесцентных лама дневного, белого и теплого белого света. нормальные и с обогащенной красноп частыо спектра. [50] |
У ламп дневного света имеется некоторый недостаток в красной части спектра. Этот дефект в настоящее время устраняется введением дополнительного компонента в люминесцентные покрытия ламп, дающего сильное излучение в красной части спектра. На рис. 295 приводятся спектры современных люминесцентных ламп. [51]
Соматические повреждения организма ионизирующим излучением являются результатом воздействия излучения на большой комплекс - коллективы клеток, образующих определенные ткани или органы. Радиация тормозит или даже полностью останавливает процесс деления клеток, в котором собственно и проявляется их жизнь, а достаточно сильное излучение в конце концов убивает клетки. Разрушительное действие излучения особенно заметно проявляется в молодых тканях. Это обстоятельство используется, в частности, для защиты организма от злокачественных ( например, раковых опухолей) новообразований, которые разрушаются под воздействием ионизирующих излучений значительно быстрее доброкачественных клеток. [52]
В случае подвода нагревающих газов вверху рабочей камеры печи и движения газов сверху вниз температура опускающихся газов понижается вследствие отдачи ими тепла и равномерный нагрев материалов по вертикали затрудняется. Подвод газов на уровне пода при отводе их на том же уровне позволяет в значительной мере выравнить температуры по высоте камеры вследствие сильного излучения поступающих газов и некоторого присасывания ими отходящих газов. [53]
![]() |
Радиоактивное излучение в электрическом поле. [54] |
Работая с урановыми соединениями, Кюри заметила, что некоторые урановые руды ( в том числе и смоляная обманка) испускают в несколько раз более сильное излучение, чем чистая окись урана с большим содержанием последнего. Из этого она заключила, что в этих рудах содержится, кроме урана, еще какой-то, до сих пор неизвестный, радиоактивный элемент, с более активным излучением, чем излучение урана, но в ничтожно малых количествах, так как не обнаруживается обычным химическим анализом. [55]
![]() |
Оптическая система флуорометра Клетта. [56] |
Второй способ имеет то преимущество, что оба фотоэлемента освещаются одинаково интенсивно, в то время как в первом способе фотоэлемент сравнения может быть поврежден сильным излучением ультрафиолетовой лампы, необходимой для возбуждения люминесценции в анализируемом объекте. [57]