Отраженное излучение

Cтраница 2

Спектральный состав отраженного излучения характеризуется спектральной степенью черноты отраженного излучения относительно спектрального состава черного излучения при температуре Тпад. [16]

Измеряют интенсивность отраженного излучения для серии образцов с известным содержанием тяжелого компонента. На основании полученных данных строят градуировочный график в координатах: активность - содержание анализируемого элемента в образце. [17]

Для фокусировки отраженного излучения кристаллы изгибаются. [18]

В виде отраженного излучения в большинстве указанных светильников распределяется 42 - 46 % и остальное излучение используется пропусканием. Зеркальные светильники с люминесцентными лампами применяются только в некоторых специальных случаях. [19]

Измеряют интенсивность отраженного излучения образцов с неизвестным содержанием анализируемого элемента. Содержание тяжелого компонента находят по градуировочному графику. [20]

Для уменьшения отраженных излучений стены, потолок и оборудование должны окрашиваться в черный цвет. [21]

В большинстве случаев отраженное излучение симметрично относительно оси отраженного пучка, причем форма его фотометрического тела близка к эллипсоиду вращения. В этих случаях характеристику рассеяния принято определять отношением большой и малой осей эллипса продольной кривой силы света. Иногда в качестве характеристики рассеяния принимают угол раскрытия зонального телесного угла, в пределах которого заключено 70 % отраженного потока. Вполне понятно, что яркость пучка лучей направленно-рассеянного отражения неодинакова по различным направлениям пространства и имеет максимальное значение по оси пучка. Пределом увеличения рассеивающей способности отражающей поверхности является отражение от поверхности, яркость которой в отраженном свете одинакова по всем направлениям пространства и не зависит от угла падения на нее пучка лучей. [22]

Схема радиолокационной съемки с космического аппарата. J - линии равных запаздываний ( концентрические окрунр ности с центром под спутником и равных доплеровскит емеше ний ( гиперболы в диаграмме направленности антенны бокового обзора. 2 - след диаграммы направленности антенны радиовысотомера.| Радиолокационное изображение района гор Максвелла ва Венере, полученное космическими аппаратами Венера-15, Венера-16. Вверху приведен высотный профиль поверхности по трассе, отмеченной белой линией ( отсчет высоты ведется от центра планеты. Изображенный фрагмент поверхности имеет длину 1100 км, ширину 150 км. [23]

О, и отраженное излучение запаздывает в соответствии с расстоянием данного участка поверхности. [24]

Зависимость коэффициента яркости лакокрасочных покрытий от углов падения и отражения излучения. [25]

Пространственное распределение яркости отраженного излучения определяется безразмерными величинами, к которым относятся индикатриса отражения ( рассеяния) и коэффициент яркости. [26]

Усиление средней интенсивности отраженного излучения зависит от параметров падающей волны и при рассеянии на ламбер-товской (2.82) поверхности конечных размеров. Если для сферической волны фактор усиления определяется выражением / V ( R) l Bi s ( x, R) при любых размерах рассеивающей поверхности ( меняется лишь абсолютное значение интенсивности принимаемого сигнала), то для плоской волны с увеличением Qr эффект усиления обратного рассеяния ослабевает. [27]

Если бы распределение отраженного излучения подчинялось закону Ламберта, то имело бы место так называемое изотропное поверхностное рассеяние, когда удельная сила отраженного излучения определяется по косинусоидальному закону. [28]

В компонентах натекания отраженного излучения Фиат, ал и Фнат. [29]

Страницы: 1 2 3 4