Жесткое рентгеновское излучение

Cтраница 3

Метод рентгеновского микроанализа ( фотоэлектронной спектроскопии) основан на том же принципе, что и метод Оже-спектроскопии, только для этого метода выбивание электронов с нижних уровней достигается облучением поверхности не электронами, а жестким рентгеновским излучением. Этот метод обладает большей разрешающей способностью по энергиям вторичных электронов, и благодаря этому при помощи рентгеновского микроанализатора можно установить валентное состояние одного и того же элемента в различных поверхностных соединениях. [31]

Двумя наиболее важными механизмами являются: прямое ускорение электрическим полем в области пересоединения, которое очень быстро ускоряет частицы в малом объеме до высоких энергий, что позволяет естественным образом объяснить узкие всплески гамма-лучей и спайки жесткого рентгеновского излучения; ускорение на ударной волне, которое стремится ускорить намного больше частиц, но более медленно, что, в свою очередь, может служить вероятным объяснением свойств главной фазы вспышки. Ниже мы кратко рассмотрим эти и другие механизмы. [32]

В последнее время в качестве компонента легких сплавов все более широкое применение находит бериллий. Уникальная способность бериллия - пропускать жесткое рентгеновское излучение - используется во всех рентгеновских аппаратах. Из бериллия делают прозрачные окошки для рентгеновских лучей. Соли стронция и бария применяются в пиротехнике; они входят в состав цветных красок. [33]

Схема прибора для изучения ползучести полимеров в процессе облучения. [34]

Конструктивные особенности ячейки в значительной мере определяет проникающая способность применяемого вида излучения. Так, большая проникающая способность у-лучей и жесткого рентгеновского излучения допускает использование сосудов весьма различных размеров и формы. [35]

Эти устройства очень широко применяются в телескопах космических лучей благодаря компактности и прочности. Они так же популярны, как детекторы жесткого рентгеновского излучения [ в области энергий 20 кэВ эффективность пропорциональных счетчиков падает как ( йсо) - 3 ] однако полученный выше результат указывает на то, что они обладают низким энергетическим разрешением. Число методов, пригодных для работы в данном энергетическом диапазоне, в настоящее время мало. [36]

Эту реакцию можно вызвать также с помощью очень жесткого рентгеновского излучения, соответствующего приблизительно 2 млн. вольт. [37]

Облучение электронами и протонами на структуру вещества практически не влияет, но вызывает ионизацию. При облучении вещества электронами большой энергии может возникнуть жесткое рентгеновское излучение. При облучении гамма-лучами могут активизироваться некоторые реакции внутри вещества. [38]

Молекулы, обнаруженные в последние годы в межзвездном пространстве. [39]

Элементы, находящиеся в грунте, возбуждались действием жесткого рентгеновского излучения и сами испускали коротковолновые лучи, анализ которых позволил сделать заключение о химическом составе лунных пород. Эти исследования показали, что, за исключением несколько большего содержания в них тугоплавких соединений титана, циркония, хрома и железа, лунные породы по своему составу очень похожи на земные. Тем не менее различия все-таки имеются, но не в составе, а в свойствах. Так, советские геохимики установили, что лунное железо ржавеет медленнее, чем земное. И сразу же возникла идея практического использования этого факта: путем сравнительного анализа земного лунного металла выявить причину такого различия и попытаться придать земному железу свойства лунного. [40]

Следует отметить, что при равных дозах химический эффект жесткого рентгеновского излучения и - лучей с энергией 1 - 2 Мэв практически одинаков. [41]

Следует отметить, что при равных дозах химический эффект жесткого рентгеновского излучения и - у-лучей с энергией 1 - 2 Мае практически одинаков. [42]

Зависимость длин волн рентгеновского излучения от атомного номера элементов - -., .. [43]

Рентгеновское излучение возникает за счет квантовых переходов внутренних электронов атомов. Последнее становится возможным в результате облучения вещества потоком электронов высокой энергии или жестким рентгеновским излучением; при этом происходит вырывание электронов из внутренних электронных слоев. На освободившиеся орбитали переходят электроны из более далеких от Ядра слоев ( рис. 84), что и сопровождается выделением квантов рентгеновского излучения. [44]

В основе ряда методов лежит получение характеристик линейчатых спектров рентгеновского излучения. Рентгеновское излучение с дискретными флуоресцентными спектрами [51] испускают атомы вещества, возбуждаемые жестким рентгеновским излучением. Данный метод, однако, обеспечивает невысокую разрешающую способность в поперечном направлении. Энергодисперсионный анализ испускаемого рентгеновского излучения выполняется с применением полупроводниковых детекторов, которые имеют больший угол восприятия и более высокую чувствительность, чем спектрометры с кристаллическим диспергирующим элементом. Из-за наличия эффектов упругого рассеяния электронов и вторичной флуоресценции пространственная разрешающая способность этого метода при исследовании массивных образцов ограничена величиной, приблизительно равной 1 мкм. Однако при изучении тонких образцов в просвечивающем растровом электронном микроскопе предел разрешения может быть понижен до 5 нм. [45]

Страницы: 1 2 3 4