Первичное рентгеновское излучение
Cтраница 1
 |
Схема спектрометра с плоским кристаллом. [1] |
Первичное рентгеновское излучение, выходящее из трубки /, расходящимся пучком падает на исследуемый образец 2, который располагают под некоторым углом к оси пучка. Образец испускает вторичное рентгеновское излучение в различных направлениях. Некоторая его доля попадает в первый коллиматор 3, состоящий из параллельных металлических пластин ( или концентрических цилиндров), расположенных на одинаковом расстоянии друг от друга. [2]
Генератором первичного рентгеновского излучения в кристалл-дифракционных аппаратах служит система из высоковольтного стабилизированного источника питания и рентгеновской трубки. [3]
 |
Модель атома Бора. [4] |
В этом методе пробу подвергают действию первичного рентгеновского излучения трубки. В результате возникает вторичное рентгеновское излучение пробы, характер которого зависит от качественного и количественного состава образца. [5]
Чрезвычайно высокая температура вещества в непосредственной окрестности источника, нагретого первичным рентгеновским излучением, приводит к дальнейшему развитию радиационных процессов - по невозмущенной среде начинает распространяться тепловая волна. Распространение тепловой волны происходит, в основном, в среде нормальной плотности. В то же время фронт тепловой волны характеризуется большими градиентами температуры и давления, что приводит к возникновению гидродинамических возмущений, направленных от центра взрыва. По мере прохождения фронта тепловой волны наблюдается прогрев грунта до температур порядка нескольких миллионов градусов. Скорость распространения тепловой волны и ее размеры во многом обусловлены термодинамическими свойствами вещества и его оптическими характеристиками. [6]
Рентгеноспектральный анализ по вторичному ( флуоресцентному) излучению имеет существенные преимущества по сравнению с анализом по первичному рентгеновскому излучению. Анализ по флуоресцентному излучению имеет более высокую чувствительность, так как при этом отсутствует фон непрерывного рентгеновского спектра. Немаловажное значение имеет также упрощение экспериментальной методики, поскольку анализируемый образец находится вне вакуумной системы рентгеновской трубки. Правда, интенсивность вторичных спектров меньше, чем первичных, и поэтому, например, фотографическая регистрация здесь не применяется. Однако достаточно высокая чувствительность счетчиков рентгеновских квантов обеспечивает быстрое и точное измерение интенсивности линий. [7]
Одним из авторов статьи ( Н. П. Ильиным) была разработана схема локального рентгено-флуоресцентного микроанализатора, базирующаяся на конструкции электронного микроанализатора, в котором электронный зонд повышенной мощности возбуждает в мишени прострельного типа первичное рентгеновское излучение, идущее через ограничивающую диафрагму на исследуемый образец. [8]
Wq при возбуждении атома определяемого элемента на - уровень, величины скачка поглощения 57 для ( / - уровня, вероятности ргперехода атома, возбужденного на - уровень, с испусканием t - й линии, площади образца S и, наконец, от отношения длины первичного рентгеновского излучения KI к длине волны A f i - й линии вторичного ( флуоресцентного) спектра определяемого элемента А с массовой концентрацией СА. При кристалл-дифракционном методе обеспечения спектральной избирательности коэффициент пропорциональности К, зависит еще от коэффициента F, учитывающего общие потери интенсивности флуоресценции из-за конечной апертуры кристалла, поглощения в воздухе, в кристалле и других факторов. [9]
Схема электроннооптической системы рентгеновского микроанализатора, используемого в микрорентгеноспектральном анализе: 1 - катод; 2 - цилиндр Винельта; з - анод; 4 - диафрагма конденсора; 5 - магнитная линза конденсора; в - диафрагма объектива; 7 - магнитная линза объектива; - образец материала; 9 - зона возбуждения первичного рентгеновского излучения; 1G - зона возбуждения флуоресцентного рентгеновского излучения. [10]
При этом вместо электронов возбуждения применяют рентгеновское излучение. Первичное рентгеновское излучение рентгеновской трубки возбуждает способность элементов к флюоресценции. Флюоресцентное излучение направляется в виде параллельного пучка и разлагается кристаллом анализатора. Интенсивность отдельных компонентов излучения определяется счетчиком гониометра. [11]
При этом вместо электронов возбуждения применяют рентгеновское излучение. Первичное рентгеновское излучение рентгеновской трубки возбуждает способность элементов к флюоресценции. Флюоресцентное излучение направляется в виде параллельного пучка и разлагается кристаллом анализатора. Интенсивность отдельных компонентов излучения определяется счетчиком гониометра. [12]
Электрон под действием вектора электромагнитной волны совершает колебания, излучая вторичные волны. Угловое распределение интенсивности этих волн зависит от состояния поляризации первичного рентгеновского излучения. [13]
В качестве источника у-из-лучения используют препарат а41Ат с активностью 300 мкюри. При помощи этого источника облучают Мо - или Sn-мишень, в которой возникает первичное рентгеновское излучение, вызывающее в анализируемом образце характеристическое рентгеновское излучение хлора. Последнее регистрируют спектрометром с кремниево-литиевым детектором. [14]
Метод используют для изучения состава фаз в различных системах, например Сг-Fe - S [721], распределения примесей в нержавеющей стали [103] и карбида хрома в сталях подшипников [ 41, с. Рентгенофлуоресцентный локальный микроанализ с использованием рентгеновского излучения от рентгеновской трубки [163, 713], а также первичного рентгеновского излучения, возбужденного в тонкой мишени электронным пучком [163, 303, 677, 703, 1045], применяют к образцам в любом агрегатном состоянии. Метод позволяет определять химический состав без разрушения и расходования образцов в микро - и нанограммовых количествах или в прицельно выбираемых зонах исследуемого объекта с локальностью от 0 1 до 1 мм. [15]
Страницы: 1 2