Более коротковолновое излучение

Cтраница 3

Считают, что фотонное облучение активизирует смачивание минералов выбиванием электронов из поверхностного слоя, что облегчает закрепление на них соответствующих анионов реагента. Область поглощения фотонов минералами находится в видимой части спектра, что исключает фотохимические реакции в объеме жидкой фазы, требующие более коротковолновых излучений. Большое значение имеет частота ( длина волны) фотонного излучения. Для разных минералов она различна. [31]

Поглощение рентгеновых лучей аргоном. Наиболее ОТЛИЧИ-в области 0 5 - 9 9 А ( по Комптону и Алиссону. тельной чертой этого графика является разрыв. [32]

Эта величина известна как - критическая длина волны поглощения аргона. Энергия излучения с большей длиной волны недостаточна для вырывания / ( - электронов, поэтому она поглощается в меньшей степени, чем более коротковолновое излучение. Другие аналогичные разрывы наблюдаются при больших длинах волн в соответствии с вырыванием L-и М - электронов. [33]

Кривые спектральной чувствительности некоторых фотоэмульсий фотопластинок. [34]

Чувствительность фотопластинок различна для разных длин волн. У обычных пластинок ( рис. 49) она максимальна для участка спектра вблизи линии, характеризуемой длиной волны 400 нм, постепенно спадает для более коротковолновых излучений и резко - в области спектра 500 нм. Пластинки типа I дают мелкозернистое изображение и отличаются высокой разрешающей способностью. Их чувствительность к длине волны 255 нм оценивается в 3 - 7 единиц по ГОСТу. Пластинки типа III, кроме собственной чувствительности для участка 225 - 495 нм, обладают еще и добавочной чувствительностью к более коротковолновым лучам. [35]

В качестве точечного источника рентгеновских лучей в микроскопах данного типа используются микрофокусные рентгеновские трубки с фокусными пятнами диаметром в единицы микрометров. Следовательно, разрешающая способность таких микроскопов составляет единицы микрометров и не превышает разрешающей способности оптических микроскопов, хотя в них и используется на несколько порядков более коротковолновое излучение. Так, например, паспортная разрешающая способность микроскопа типа МИР-3 составляет 3 - 5 мкм. [36]

Эти изменения мало заметны при действии актиничных излучений ( в обычном смысле этого слова), но они вызывают совершенно другие явления при действии лучей красной границы видимого спектра и близкой инфракрасной области. Так же как в случае облучения монокристаллов ( работы Гилыпа и Поля), эти лучи вызывают диспергирование серебра, возникшего в результате фотолитического разложения бромистого серебра более коротковолновыми излучениями. [37]

Если измерение поглощения в ультрафиолетовой и видимой областях целесообразно рассматривать вместе, то измерение поглощения в инфракрасной области лучше выделить в самостоятельный раздел. Это обусловлено двумя важными причинами: во-первых, для измерений в ИК-области требуется совсем иная оптическая техника, поэтому не существует спектрофотометров, которые без изменений были бы пригодны для работы как в ИК -, так и в УФ - и видимой областях; во вторых, механизмы поглощения ИК - и более коротковолнового излучения различны. [38]

Таким образом, d представляет собой не что иное, как разрешающую способность микроскопа. Для наблюдения объектов размерами в пределах от 100 ммкм до 10 мкм можно применять видимый свет ( длина волны от 7600 А в красной области спектра до 3800 А в фиолетовой области), при исследовании объектов, размеры которых не превышают 100 ммкм, необходимо использовать ультрафиолетовую микроскопию, поскольку длина волны ультрафиолетового света составляет 100 - 3800 А, и наконец, мелкие структурные элементы ( размерами порядка нескольких ангстрем) могут наблюдаться только с помощью электронной микроскопии, в которой применяется еще более коротковолновое Излучение. Брегга для рентгеновской дифракции, позволяет выбирать вид излучения в зависимости от уровня исследуемых структурных элементов. [39]

Однако лишь длинноволновая часть их излучения ( Я 290 нм) достигает земной поверхности. Более коротковолновое излучение поглощается озоном, кислородом и др. компонентами атмосферы на высоте 30 - 200 км, что играет большую роль в атм. [40]

Зависимость мольного десятичного коэффициента поглощения ( EIO хлора от длины волны. [42]

Энергия диссоциации хлора на два нормальных атома составляет 2 475 эв. Эта энергия соответствует квантам излучения с длиной волны около 5000 А или 500 ммк. Так что более коротковолновое излучение доставляет энергию, достаточную для диссоциации С12 на нормальные атомы. На рис. 69 приведена зависимость мольного десятичного коэффициента поглощения ( е10) хлора от длины волны. Последняя сходится при длине волны 478 5 ммк, что соответствует энергии 2 59 эв, а это приблизительно на 0 11 зв больше энергии диссоциации на нормальные атомы. [43]

Существенными элементами оптической схемы являются светоделитель и компенсатор, необходимый для выравнивания оптических путей в обоих плечах интерферометра. Светоделитель и компенсатор должны быть с высокой точностью плоскопараллельны и однородны, а также иметь одинаковую оптическую толщину. Эти требования повышаются при исследовании более коротковолнового излучения. Ниже представлены применяемые в фурье-спектрометрах светоделители. [44]

В видимом и инфракрасном диапазонах частот все излучение, которое не отражается, поглощается металлом в весьма тонком поверхностном слое. Это позволяет упростить описание и рассматривать лишь два процесса - отражение и поглощение, пренебрегая процессом распространении излучения в металле. В случае далекого ультрафиолетового и еще более коротковолнового излучения коэффициент поглощения значительно меньше, излучение распространяется в глубь металла на макроскопическое расстояние, гораздо большее длины волны излучения. Поэтому при описании процесса взаимодействия в этом случае необходимо кроме отражения и поглощения учитывать также и прохождение ( распространение) излучения в металле. [45]

Страницы: 1 2 3 4 5