Cтраница 1
Нерассеянное излучение в предположении экспоненциального закона ослабления можно выразить несколькими интегральными функциями, вид которых изменяется в зависимости от условий задачи. [1]
Полностью нерассеянным излучением определяется компонента Фпр. Компоненты ФНат и Фзащ имеют составляющие нерассеянного и рассеянного излучений. Все остальные компоненты определяют вклад в поле рассеянного излучения. [2]
В - соответственно мощность дозы нерассеянного излучения при наличии защиты и некоторая прибавка к этой мощности, учи-тывающая % наличие рассеянного излучения; безразмерная величина В ( 1 AD - / D - ) называется фактором накопления. Фактор накопления зависит от всех характеристик источника и защитной среды, в том числе от толщины экрана. Его обычно определяют экспериментально и представляют в виде В В ( ЬИ, б, z), где е и z - соответственно энергия у-квантов и атомный номер защитной среды. В табл. 7.12 приведены значения фактора накопления и линейного коэффициента ослабления для некоторых материалов. [3]
В - сответственно мощность дозы нерассеянного излучения при наличии защиты и некоторая прибавка к этой мощности, учитывающая наличие рассеянного излучения; безразмерная величина В ( 1 & D / if) называется фактором накопления. Фактор накопления зависит от всех характеристик источника и защитной среды, в том числе от толщины экрана. Его обычно определяют экспериментально и представляют в виде В B ( bh, е, z), где Е и г - соответственно энергия у-квантов и атомный номер защитной среды. В табл. 6.12 приведены значения фактора накопления и линейного коэффициента ослабления для некоторых материалов. [4]
Очевидно, первое слагаемое, описывающее нерассеянное излучение, имеет разрывный характер, а второе соответствует непрерывному распределению рассеянного излучения. Интересно отметить, что соотношение между рассеянной и нерассеянной компонентами при малых а не зависит от г, а определяется лишь коэффициентом SD ( Е0) и формой коллиматора. [5]
Во вторых, рассеянное излучение, так же как и первичное, нерассеянное излучение, образует на рентгеновской пленке изображение просвечиваемого изделия. Но так как рассеянное излучение возникает во всем объеме изделия, то на основное изображение изделия, обусловленное первичным излучением, накладывается бесконечное множество смещенных друг относительно друга вторичных изображений, создаваемых рассеянным излучением, в результате чего контрастность снимка ухудшается. [6]
Узкий пучок излучения - геометрия, при которой детектор регистрирует только нерассеянное излучение источника. [7]
![]() |
Направленность пучков излучения от бетатронов с различной энергией возбуждения.| Влияние рассеянного излучения на четкость. [8] |
При широком расходящемся пучке не все рассеянное излучение, образованное первичным пучком, выйдет из первичного лучка ( рис. 4 - 72 6); интенсивность рассеянного излучения будет суммироваться с интенсивностью первичного нерассеянного излучения, ухудшая качество изображения. У параллельного пучка ( рис. 4 - 72 а) большая часть рассеянных квантов уходит из пучка. [9]
В таблице отдельные компоненты в нечетных формулах (12.9) - (12.21) имеют следующий физический смысл: Ф - полная плотность потока излучения в точке детектирования; Фпр - составляющая плотности потока, обусловленная нерассеянным излучением прямой видимости, вошедшим через торец канала и ослабляющимся в нем геометрически; Ф Шт - составляющая плотности потока, обусловленная излучением натекания, которое прошло через окружающую защиту, вошло в канал через его боковую стенку и попало в точку детектирования без рассеяния от стенок; Фал. Фугл - составляющая плотности потока для изогнутых каналов, обусловленная излучением, попавшим в точку детектирования после рассеяния на угле; Ф3ащ - составляющая плотности потока, обусловленная излучением, прошедшим только через защиту. [10]
![]() |
Коэффициенты самопоглощения F ( HO, о линейных и. [11] |
При исследованиях прохождения излучения через защиту различают геометрию узкого ( хорошая геометрия) и широкого ( плохая геометрия) пучков. В реальных задачах наряду с нерассеянным излучением детектор регистрирует также рассеянное ( однократно и многократно) в среде излучение. Геометрия, при которой детектор регистрирует нерассеянное и рассеянное излучение, называется геометрией широкого пучка. [12]
В табл. 6.1 приведены формулы для расчета полей излучений широко используемых протяженных источников без учета рассеянного в источнике излучения без защиты. Приведенные в таблице формулы для протяженных источников получены интегрированием функции ослабления нерассеянного излучения точечных источников по всему пространству, занимаемому протяженным источником. [13]
Однока-нальная радиометрическая аппаратура ДГС-1 и девятика-нальная ДГС-9 [55] предназначены для контроля сплошности изделий простой формы методом просвечивания с применением в качестве источника излучения 60Со активностью 32 - 64 Ки. В аппаратуре ДГС-1 и в каждом из каналов аппаратуры ДГС-9 определение плотности потока нерассеянного излучения на контролируемом участке изделия осуществляют путем измерения средней частоты следования электрических импульсов, поступающих со сцинтилляционного детектора, амплитуда которых превышает установленный уровень дискриминации. К выходу интенсиметра подключается самопишущий прибор. [14]
Рассмотрим произвольную неоднородную среду. При выводе формулы (6.33) для розыгрыша длины пробега использовалось выражение ехр ( - 2S /), описывающее ослабление нерассеянного излучения на расстоянии s водно-родной среде. [15]