Cтраница 4
![]() |
Схема записи дилатометрической кривой.| Схема интерференционного дилатометра. [46] |
Емкостной дилатометр основан на изменении емкости конденсатора, одна из пластин которого связана с исследуемым образцом и смещается при его удлинении. [47]
В основу емкостного метода положено изменение емкости конденсатора в зависимости от уровня его заполнения. Первичный преобразователь, преобразующий изменение уровня жидкости в пропорциональное изменение емкости, представляет собой, например, цилиндрический конденсатор, электроды которого расположены коаксиально и помещены в резервуар, уровень содержимого которого измеряется. Конденсатор может быть образован стенкой резервуара и щупом, погруженным в его содержимое. [48]
К концу установленного срока хранения изменение емкости конденсаторов не превышает 3 %, тангенс угла потерь е выше 35 - 10 - 4, а сопротивление изоляции е менее 1 000 Мом. [49]
![]() |
Эквивалентная схема кварцевого резонатора ( а, характер изменения сопротивления кварцевого резонатора в зависимости от частоты ( б. [50] |
Для уменьшения влияния температуры на изменение емкости конденсаторов и сопротивления резисторов в автогенератор включают конденсаторы и резисторы с отрицательными и положительными ТКС и TKR. Снижение воздействия температуры на индуктивность катушек достигается за счет применения специальных материалов для каркасов катушек. Для исключения влияния температуры на параметры транзисторов в отдельных случаях автогенераторы помещают в термостат. [51]
Этот метод основан на измерении изменения емкости конденсатора при введении частиц пыли между его пластинами. [52]
Регулирование полосы пропускания усилителя осуществляется изменением емкостей конденсаторов С4, Сц и С16, которые связывают резонансные контуры полосовых фильтров. [53]
Принцип действия их основан на изменении емкости конденсатора. [54]
![]() |
Частотные характеристики микрофонов МД-59, МДО-1 и МД-44 ( по фронту и тылу. [55] |
Действие такого микрофона основано на изменении емкости конденсатора, образуемого диафрагмой микрофона и его вторым неподвижным электродом. [56]
Определение неровноты материала основано на изменении емкости конденсатора в зависимости от массы исследуемого материала. [57]
![]() |
Схемы конструкций емкостных датчиков. [58] |
Принцип действия их основан на изменении емкости конденсатора при перемещениях. [59]