Cтраница 3
Вещество, переведенное в раствор, легко очищается от грубых механических примесей фильтрованием. При кристаллизации вещества происходит распределение примесей между кристаллами и раствором. Явление включения примесей в кристаллы вещества называется сокристалли-зацией. Именно из-за сокристаллизации невозможно этим способом полностью освободить вещество от примесей. [31]
Электроны без всякого сопротивления движутся в периодическом поле идеально построенного кристалла. Только отступления от периодичности создают условия для рассеяния электронов. Поэтому подвижность электронов падает с повышением температуры, с появлением искажений в кристаллической решетке или с включением примесей. Подвижность электронов резко убывает и при переходе от кристаллического к аморфному или жидкому состоянию. [32]
![]() |
Схема, поясняющая меха низм контактной коррозии железа и меди в присутствии воды. [33] |
Особенно коррозионно опасным может быть место контакта двух разнородных металлов. Электрохимическая коррозия, развиваемая при контакте двух металлов, имеющих разные потенциалы в данном электролите, называется контактной. Коррозия металла с более отрицательным потенциалом обычно усиливается, а коррозия металла с более положительным потенциалом замедляется. Для протекания контактной коррозии достаточно включений примеси на поверхности металла. [34]
При такой обработке на поверхности полимера в результате окисления образуются полярные группы, которые способствуют повышению взаимодействия с адгезивом или покрытием. Он имеет существенные преимущества перед методом обработки коронным разрядом в электрическом поле. Коронный разряд концентрируется на дефектах полимерного образца ( микроскопических порах, отверстиях, включениях электропроводящих примесей) и увеличивает их в результате пробоя. При обработке плазменной форсункой разряд происходит на некотором удалении от обрабатываемого образца и не разрушает поверхность. [35]
Коррозия протекает при достаточно отрицательных потенциалах с превалирующей водородной деполяризацией. Это типично для коррозии железа, цинка и других металлов в неокисляющихся кислотах, а для таких ак-тивщых металлов, как магний, дяже в нейтральных средах. Скорость коррозии зависит от перенапряжения водорода, сильно возрастая с понижением перенапряжения ( при включении примесей с низким перенайряже-нием, например, примесей железа в цинке. [36]
Это один из возможных механизмов зарождения микротрещии, которые постепенно растут по мере увеличения числа циклов нагружения до тех пор, пока не будет выполнено необходимое условие разрушения L Lj p или же микротрещины не сольются в магистральную трещину, нарушающую целостность образца или детали. N для различных этапов развития усталостного разрушения: 1 - появление первых следов пластической деформации в зернах; 2 - появление первых микротрещин, обнаруживаемых с помощью электронного микроскопа; 3 - начало объединения микротрещин в трещины, видимые под оптическим микроскопом; 4 - появление первой визуально наблюдаемой трещины; 5 - разрушение. N не наступает ни один из этапов процесса усталостного разрушения. При определенных условиях в результате упрочнения металла у края трещины или торможения трещины у границ зерен и включений примесей ее рост может прекратиться или существенно замедлиться, что повышает сопротивление усталости и увеличивает долговечность деталей, подверженных знакопеременному нагруже-нию. [37]
Значение исследования спектров поглощения для исследования люминофоров очень велико. В случае свечения дискретных центров спектры поглощения характеризуют непосредственно излучающий центр. Они связаны с его составом, структурой и состоянием. Прирекомбинациошгом свечении активированных кристаллов поглощение происходит главным образом в решетке кристалла, частью недеформированной, частью деформированной включением примесей. Самостоятельное поглощение ионов активатора составляет обычно лишь небольшую долю общего поглощения и становится существенным только при больших концентрациях активатора. [38]
![]() |
Распределение компонентов анодной меди ( % от содержания в аноде. [39] |
Скорости разряда ионов As, Sb и Bi на катоде весьма малы, но они попадают в катодный металл другим путем. Взвеси электрофоретически переносятся к катоду и включаются в катодный осадок. Попадание этих примесей в катод следует исключить, так как даже незначительное количество сурьмы в катодной меди снижает ее пластичность, содержание 0 02 % мышьяка уменьшает на 15 % электропроводимость меди. Лучшим методом борьбы является максимальное удаление этих примесей еще при огневом рафинировании. Включение примесей в катод несколько снижается при повышении кислотности электролита, препятствующей гидролизу этих солей. Показано также, что причиной образования плавучего шлама является пассивирование анода. [40]
![]() |
Распределение компонентов анодной меди. [41] |
Из таблицы вытекает, что наиболее нежелательными являются элементы II группы ( As, Sb и Bi), которые распределяются по всем трем продуктам электролиза. Скорости разряда ионов As, Sb и Bi на катоде весьма малы, однако они попадают в катодный металл другим путем. Взвеси катафоретически переносятся к катоду и включаются в катодный осадок. Лучшим методом борьбы является максимальное удаление этих примесей еще при огневом рафинировании. Включение примесей в катод несколько снижается при повышении кислотности электролита, препятствующей гидролизу солей этих элементов. [42]
Стандартные электродные потенциалы железа, кобальта и никеля в водной среде при температуре 25 С составляют соответственно - 0 44; - 0 277 и - 0 250 В. Очевидно, что металлы, более электроположительные, чем основной металл сплава, будут включаться в катодный осадок. При совместном разряде ионов Fe2, Co2, № 2 в сплав могут входить и металлы, более электроотрицательные, чем основной металл. Так, потенциал никеля при значениях силы тока, применяемых в гальванопластике, значительно сдвинут в отрицательную сторону. В работе [50] подробно рассмотрена кинетика включения примесей металлов в сплав. [43]
Под твердыми фазами, состоящими из чистых компонентов, понимаются гомогенные фазы, имеющие химический состав и кристаллическое строение, идентичные с чистыми компонентами. В свою очередь понятие чистый компонент является условным и идеализированным. Это то предельное состояние химического индивида, к которому мы пришли бы, если бы смогли его полностью очистить от примесей других веществ, в том числе и от продуктов его диссоциации. Состав твердой фазы, кристаллизующейся из расплава или раствора, никогда не бывает идентичен с составом чистого компонента, так как реальные кристаллы при их образовании загрязняются в какой-то степени примесями других составных частей системы или имеют дефекты в кристаллической структуре и по химическому составу не соответствуют химической формуле. Заметим, однако, что известны физические свойства твердых фаз и очень чувствительные к содержанию в них примесей и наличию дефектов в кристаллической решетке, вызванных включением примесей или появлением вакансий. [44]
Атомы ванадия в решетке окиси ванадия имеют валентность, равную пяти. Однако при введении атома вольфрама в решетку окисла ванадия шестой валентный электрон вольфрама, связанный со своим атомом не очень сильно, может при термических колебаниях мигрировать, сквозь решетку окиси ванадия как переносчик электрического тока или влиять на адсорбцию кислорода на поверхности. Электронейтральность кристалла сохраняется вследствие того, что избыток положительного заряда атома вольфрама нейтрализует избыток электронов, имеющихся в кристалле. Однако электрон может мигрировать сквозь решетку и проводить электрический ток, в то время как положительный заряд должен оставаться локализованным в том месте решетки, в котором находится атом вольфрама. В результате вольфрам способствует электронной проводимости в твердом веществе. В противоположность этому, когда в решетке окиси ванадия атом ванадия замещен на титан ( случай б рис. 2), он отдает только четыре валентных электрона. Пятый электрон, необходимый для валентной структуры кристалла, отдается одним из атомов ванадия, входящих в решетку окисла, что приводит к образованию так называемых положительных дырок в твердом веществе. В этом случае перенос электрического тока и электрическая проводимость возникают при движении этих положительных дырок. В обзорной литературе, указанной во вступительной части этого раздела, довольно подробно излагаются количественные законы, управляющие скоростью движения потока электрических зарядов, и энергетические факторы, управляющие их движением от одного положения в решетке к другому. Дефекты решетки, вызванные либо нестехио-метричностъю состава, либо включением инородных примесей, несут ответственность за перенос электронов от твердого вещества к адсорбированной молекуле или, наоборот, за переход электронов из адсорбированной молекулы в решетку. Подобным же образом движение электронов или положительных дырок в твердом веществе имеет большое значение для каталитического поведения полупроводника; кроме того, этим можно объяснить быстрое образование дефектов решетки при соударении адсорбирующейся молекулы с поверхностью. Признано также, что дефекты не локализуются в определенном месте решетки ( как показано на рис. 1 и 2), а распространяются на довольно большое число атомов. [45]