Изменение - интерференционная картина
Cтраница 1
Изменение интерференционной картины, помимо углового смещения, приводит к колебаниям интенсивности сигнала, которые также носят случайный характер. В том случае, когда для определения направления на цель используется амплитудная пеленгация при последовательном сравнении сигналов ( например, коническом сканировании), флуктуации интенсивности являются причиной хаотического движения антенны вокруг направления на цель. Для вычисления возникающей ошибки в ашем распоряжении могут быть данные о величине и характере изменения интенсивности отраженного сигнала и о частотно-временных свойствах системы АСН. [1]
Рассмотрим изменение интерференционной картины в опыте Юнга, обусловленное использованием протяженного источника света. Разумеется, речь идет не об увеличении размеров источника в направлении, параллельном щелям: при использовании такого линейного источника вид интерференционной картины, как мы видели, не меняется. Сейчас нас будет интересовать вид интерференционной картины при использовании первичного источника конечной ширины, а сами щели будем для простоты считать бесконечно узкими. Мы увидим, что с увеличением ширины источника резкость интерференционных полос уменьшается вплоть до их полного исчезновения. [2]
Рассмотрим изменение интерференционной картины в опыте Юнга, обусловленное использованием протяженного источника света. Разумеется, речь идет не об увеличении размеров источника в направлении, параллельном щелям: при использовании такого линейного источника вид интерференционной картины, как мы видели, не меняется. [3]
Такой характер изменения интерференционной картины при изменении N полностью согласуется с законом сохранения энергии: общая энергия колебаний во всех точках экрана, на котором наблюдается интерференционная картина, пропорциональна N. [4]
 |
Схема расположения для наблюдения цветов кристаллической. [5] |
Поворот объекта приводит к изменению интерференционной картины. В частности, таким методом можно обнаружить слабую анизотропию в кусках стекла и других материалах, обычно изотропных, но подвергнувшихся каким-либо деформациям вследствие сжатия или неравномерного нагрева ( см. гл. [6]
 |
Схема прохождения пучков разных порядков дифракции через систему из прозрачной и отражательной решеток при наблюдении в одном. [7] |
В отличие от обычных интерферометров изменение интерференционной картины в данной схеме определяется не геометрической разностью хода, а разной относительной скоростью и направлением изменения фаз пучков, дифрагированных от решетки под различными углами. [8]
Окр л / 2 или наоборот) вызывает изменение интерференционной картины на дополнительную. [9]
Основой любого СВЧ-интерферометра служат волноводный мост, генератор электромагнитных колебаний и фазовый детектор, позволяющий регистрировать изменение интерференционной картины, возникающей вследствие изменения показателя преломления среды, расположенной перед приемной антенной измерительного плеча. В неразрушающих методах контроля основной задачей построения интерферометров является непрерывная регистрация интерференционной картины или непосредственная непрерывная регистрация фазовых сдвигов, так как в этом случае можно получить не только качественную дефектограмму, но и количественную оценку параметров контролируемого материала. [10]
Обычно в опытах подобного рода изучают не интенсивность или окраску света, выходящего из системы, а наблюдают изменение интерференционной картины. Для этого необходимо осветить кристаллическую пластинку, помещенную между двумя николями, непараллельным пучком света и спроецировать линзой картину на экран. В проходящем свете наблюдаются интерференционные полосы, соответствующие постоянной разности фаз. Их форма существенно зависит от взаимной ориентации поляризаторов и оси кристаллической пластинки. [11]
Опыт Майкельсона и многократные его повторения на еще более совершенных установках показали, что поворот интерферометра не вызывает какого-либо изменения интерференционной картины, выходящего за пределы погрешностей измерений. [12]
Очевидно, что материал для записи голограмм должен быть в состоянии записывать очень малые ( размером порядка длины волны) изменения интерференционной картины, образующейся при пересечении объектного и опорного пучков. [13]
Метод однократной экспозиции удобен тем, что позволяет в реальном масштабе времени регистрировать изменения объекта ( рабочей волны) в виде изменения интерференционной картины. [14]
Из приведенных в табл. 2 данных следует, что при больших значениях р лучи, претерпевшие большое число отражений между зеркальными поверхностями, имеют небольшую интенсивность, они практически не вызывают изменения общей интерференционной картины. [15]
Страницы: 1 2 3