Старение - диэлектрик
Cтраница 2
Выше уже было указано на тесную взаимосвязь опытов по изучению старения диэлектриков и по определению характеристик надежности элементов ( радиодеталей), содержащих диэлектрики в качестве наиболее уязвимой составной части. Однако при обработке результатов испытаний на надежность используется ряд специфических понятий и представлений. Учитывая ограниченный объем книги, а также то обстоятельство, что вопросы теории надежности подробно рассмотрены в ряде монографий, остановимся лишь на краткой оценке преимуществ и недостатков основных характеристик надежности элементов радиоустройств. Кроме того, обсудим вопрос об оценке достоверности определения характеристик надежности элементов. [16]
При постоянном напряжении влага способствует развитию в диэлектрике электрохимических явлений, вызывающих старение диэлектрика. [17]
Следует отметить, что вопрос о зависимости кратковременного пробивного напряжения от времени старения диэлектрика не-всегда правильно освещается в существующей литературе. [18]
Появление отказов при работе конденсаторов связано прежде всего своздействием напряжения, которое может вызывать старение диэлектрика и привести к пробою конденсатора. [19]
Последний из этих факторов сказывается только при длительном воздействии напряжения и обусловливает собой процесс старения диэлектрика при воздействии переменного напряжения ( в некоторых случаях и при воздействии постоянного); два других фактора могут сказываться и при кратковременном воздействии напряжения, особенно первый из них. Этим можно объяснить, что ионизационный пробой может проявиться в конденсаторе как при малых, так и при больших значениях времени воздействия приложенного напряжения. [20]
Необратимые изменения происходят за счет остаточных деформаций в элементах конструкции конденсатора, за счет старения диэлектрика, перегруппировки воздушных прослоек между обкладками и твердым диэлектриком, а также за счет ряда других причин. [21]
Итак, проведенный расчет по крайней мере не опровергает предположения, согласно которому возрастание тока при старении титаносодержащих диэлектриков может быть обусловлено инжек-цией добавочных носителей тока из электродов в диэлектрик. [22]
Электрическая прочность конденсаторов в условиях эксплуатации не может оставаться постоянной и снижается с течением времени в результате старения диэлектрика. Поэтому кратковременные испытания повышенным напряжением не дают полной уверенности в том, что конденсатор будет надежен в эксплуатации. Однако все явления, имеющие место при эксплуатации конденсаторов, могут быть искусственно вызваны методом ускоренных испытаний. [23]
Электрическая прочность конденсаторов в условиях эксплуатации не может оставаться постоянной и снижается с течением длительного времени в результате процесса старения диэлектрика. [24]
 |
Зависимость R (. [25] |
Однако решение задачи в [37] ограничивается, во-первых, лишь одним частным случаем: предполагается, что скорость изменения меры старения диэлектрика dR / dt зависит только от величины приложенного напряжения и не изменяется в процессе испытаний. Во-вторых, авторы [37] не учитывают, что значение меры старения Rnp в момент пробоя должно зависеть от приложенного напряжения. [26]
Эта температура устанавливается исходя из характера и степени зависимости тангенса угла потерь и сопротивления изоляции диэлектрика от температуры, процессов старения диэлектрика при длительном воздействии температуры, электрических и механических нагрузок, а также из условий обеспечения длительной эксплуатации конденсаторов в аппаратуре. [27]
Электрическая - прочность - - конденсаторов в условиях эксплуатации не остается постоянной и с течением времени снижается в результате так называемого процесса старения диэлектрика. [28]
При возникновении ионизации газовых или жидкостных включений в результате дополнительных потерь fg5 пгзко возрастает, что и позволяет выявлять этот вид дефекта, в большинстве случаев связанный со старением диэлектрика или недостатками производства. [29]
Правильное изучение изменения величины пробивного напряжения в процессе электрического старения диэлектриков возможно только на основе анализа функций распределения значений Unp, получаемых в соответствии с указаниями § 1 - 2 до старения диэлектрика и через определенные интервалы времени его старения. [30]
Страницы: 1 2 3 4