Cтраница 4
При помощи размерных расчетов могут быть определены положения поверхностей, получающиеся вследствие изменения предельных размеров, сдвигов и деформаций отдельных деталей. Методами размерных расчетов могут определяться также величины операционных допусков и отклонений размеров при изменении баз простановки этих размеров. [46]
Диференциальный микрометрический винт служит для установки индикатора на нуль. Базы тензометров равны: 0 5; 1; 1 5 и 2 мм; изменение базы достигается сменой опорных призм. Электрическая схема дана на фиг. Воздушный зазор между сердечником и якорем электромагнита IV, установленного на панели прибора, регулируется с точностью до 10 - 5 мм, что дает возможность получать тарировочные кривые рабочего тензометра после установки его на детали. [47]
Присваивания и операторы обработки стеков, рассмотренные выше, конечно, важны, но не они составляют суть обработки данных в языках представления знаний. В дополнение к этому, а вернее, в первую очередь, здесь должны быть средства изменения базы знаний, текущее состояние которой и определяет, какие решения уже были приняты и что будет происходить дальше. [48]
В каждом отдельном случае в зависимости от сложности обрабатываемой заготовки может быть предложено несколько схем базирования. При анализе и сопоставлении этих схем приходится рассчитывать погрешности установки, пересчитывать размеры и допуски ( если происходит изменение баз), а также определять допуски на размеры технологических баз. Для уменьшения числа вариантов схем базирования следует по возможности использовать типовые схемы установки. [49]
Основной особенностью отказа системы является потеря информации о состоянии операционной системы и оперативной памяти ЭВМ. Поэтому информация о том, что происходило в системе в момент отказа, может быть получена только из журнала изменений базы данных и от оператора. [50]
Измерение деформаций неравномерно нагретого образца при нестационарных режимах сопровождается фиксацией фиктивных деформаций, вызванных линейными расширениями образца и в связи с этим изменением базы измерения деформометра, а также перемещениями, возникающими в деформометре из-за неравномерности прогрева в цикле. [51]
Измерение деформаций неравномерно нагретого образца при нестационарных режимах сопровождается - фиксацией фиктивных деформаций, вызванных линейными расширениями образца и в связи с этим изменением базы измерения деформомет-ра, перемещениями, возникающими в деформометре из-за неравномерности прогрева в цикле. [52]