Cтраница 2
Степень искажения усиливаемого сигнала определяется совокупностью трех видов искажений: нелинейных, частотных и фазовых. [16]
![]() |
Искажения резонансной кривой УПЧ ( пунктирная кривая, вызванные зависимостью параметра YZI транзистора от частоты. [17] |
Степень искажения резонансной кривой характеризуется относительным перекосом АРп / Рп - Величина перекоса зависит от соотношения частот fo и fs и заданной полосы пропускания. [18]
Степень искажения идеальной характеристики дроссельного органа при переменном перепаде давления в нем, которым имеет место в действительных условиях работы дроссельного органа, зависит от отношения перепада давления в дроссельном органе в положении полного открытия к полному располагаемому напору в расчетном участке, или иначе, от отношения коэффициента сопротивления дроссельного органа в положении полного открытия к суммарному коэффициенту сопротивления расчетного участка, включая дроссельный орган. [19]
Если степень искажения е не превосходит точности измерения, то приближенное моделирование не отличается от точного. [20]
![]() |
Кресловидные конформации декалина. [21] |
Определите степень искажения углов между связями С-С - Св бицикло - [1,1,0] - бутане в том случае, если молекула была бы плоской. [22]
![]() |
Кресловидные конформации декалина. [23] |
Определите степень искажения углов между связями С - С - С в бицикло - [1,1,0] - бутане в том случае, если молекула была бы плоской. [24]
Если степень искажения е не превосходит точности измерения, то приближенное моделирование не отличается от точного. [25]
![]() |
Кресловидные конформации декалина. [26] |
Определите степень искажения углов между связями С - С - С в бицикло - [1,1,0] - бутане в том случае, если молекула была бы плоской. [27]
Определение степени искажений импульса испытываемым усилителем может также производиться методом сравнения подводимого неискаженного импульса с искаженным, снимаемым е выхода усилителя гГутем одновременного наблюдения обоих им-пульсов на экране двухлучевого осциллографа. Испытаний усилителей с помощью измерителей переходных характеристик ( ИПХ) в принципе мало чем отличаются от испытаний с помощью генератора импульсов и осциллографа. В настоящее время широкое применение имеет метод визуального наблюдения частотной характеристики, подробно рассмотренной выше. [28]
Величина и степень искажения контура линии, обусловленные самопоглощением, зависят от геометрических размеров плазмы и распределения в ней температур и поглощающих атомов. В практике источники с постоянной по всему объему температурой встречаются редко. Наружные, более холодные части плазмы поглощают только центральную часть линии, испускаемой внутренними горячими участками плазмы, так как доппле-ровское уширение для линии поглощения оказывается меньше, чем для линии испускания. [29]