Изменение - освещенность
Cтраница 1
 |
График изменения освещенности в процессе эксплуатации осве. [1] |
Изменение освещенности в процессе эксплуатации осветительной установки для данной контрольной точки будет иметь вид, представленный на рис. 11.1, где характер постепенного снижения освещенности определяется факторами старения источников света и загрязнения осветительных приборов. Мгновенные спады освещенности обусловлены каждый раз перегоранием одной из работающих ламп. Количество этих спадов и временные их параметры зависят от действительных сроков службы ламп, работающих в зоне данной контрольной точки. Чем больше осветительных приборов здесь, тем меньший будет спад, и график уменьшения освещенности может превратиться в плавную ( неступенчатую) кривую экспоненциального характера. [2]
Изменение освещенности в зависимости от разности фаз слагаемых световых колебаний называется интерференцией. Наблюдая интерференцию, можно сделать заключение о разности фаз пришедших в интерферометр когерентных волн, а отсюда вычислить время запаздывания одной волны относительно другой. Именно это и было сделано Майкельсоном и Морли. [3]
Изменение освещенности в помещении вызывает изменение сопротивления фоторезистора и, следовательно, напряжения на управляющей сетке триода. Внутреннее сопротивление лампы изменяется, что приводит к изменению напряжения на управляющем электроде кинескопа и к изменению яркости изображения. [4]
 |
Бесконтактные датчики частотно-импульсной системы. [5] |
Изменение освещенности фотоэлемента влечет за собой изменение фототока, усиливаемого двухкаекадным усилителем У. [6]
Изменение освещенности решетки вызывает изменение величины сопротивления фотоэлемента и, следовательно, силы тока в цепи, в которую включен фотоэлемент. Между фототоком и освещенностью существует нелинейная зависимость. Помимо этого, характеристики фотосопротивлений подвержены влиянию температуры. [7]
Изменение освещенности фотоэлемента достигается путем установки его на различных расстояниях ( 5 - 7 точек) от эталонной лампы до тех пор, пока будет достигнут предел шкалы гальванометра, при этом режим лампы все время контролируется вольтметром, програду-ированным по эталону. [8]
Изменения освещенности объектов съемки на 61 - 65 сев. [9]
Изменения освещенности объектов съемки на 57 - 61 сев. [10]
Изменения освещенности объектов съемки на 42 - 50 сев. [11]
Изменение освещенности поля зрения производится с помощью апертурной диафрагмы, находящейся в осветителе. [12]
Изменение освещенности поля зрения производится с помощью апертурной диафрагмы, находящейся в осветителе. [13]
Изменением освещенности кристалла в широких пределах регулируется его электрическая проводимость. [15]
Страницы: 1 2 3 4