Cтраница 1
Изменение параметров ламп и транзисторов после их предварительного прогрева незначительно. Прогрев электронных ламп сопровождается существенным изменением междуэлектродных емкостей, а прогрев транзисторов - изменением сопротивления промежутка база - эмиттер, что приводит к так называемому выбегу частоты. В дальнейшем изменение частоты в транзисторных генераторах пренебрежимо мало, а в ламповых частота медленно понижается. [1]
Изменение параметров ламп и транзисторов после предварительного их прогрева пренебрежимо мало. Предварительный прогрев электронных ламп сопровождается значительным изменением величины междуэлектродных емкостей, а прогрев транзисторов - изменением сопротивления промежутка база - эмиттер, что приводит к так называемому выбегу частоты. [2]
Изменение параметров ламп усилителя в блоке индикатора, колебание напряжения питающей сети более чем на 10 - 15 % и выполнение измерений в помещении с повышенной влажностью ( свыше 80 %) также могут увеличить погрешность показаний прибора. [3]
В лучшем случае изменение параметров лампы таково, что напряжение на нагрузке остается неизменным. [5]
Второй причиной, вызывающей изменение параметров ламп, является непостоянство контактной разности потенциалов между первой сеткой и катодом лампы, происходящее в результате изменения работы выхода поверхности сетки. Изменение контактной разности потенциалов может происходить как в сторону увеличения, так и в сторону снижения. Если во время работы лампы поверхность сетки активируется за счет напыления активных веществ с катода, то работа выхода уменьшается и анодно-сеточная характеристика сдвигается влево. Одновременно может происходить и обратный процесс - дезактивация, т.е. повышение работы выхода сетки за счет отравления активного слоя на сетке кислородом, выделяющимся из нагретых деталей лампы, и испарения с сетки этого активного слоя. В результате контактная разность потенциалов может изменяться в пределах 2 - 3 в, и в этих же пределах может смещаться характеристика ламп. [6]
На рис. 15 дано изменение параметров лампы ДРИ с добавками йодидов натрия и скандия при колебаниях питающего напряжения. [8]
H Т - Влияние изменения параметров лампы, питающих напряжений, разброса номиналов деталей схемы, изменения температуры, старения деталей или ламп может сказаться на одном или нескольких из этих параметров. Стабилизация длительности импульса фантастрона при этом эквивалентна стабилизации каждого из пяти вышеперечисленных параметров или же сведению к нулю суммарного эффекта их изменения. [9]
Дрейф нуля обусловлен также изменением параметров ламп и транзисторов во времени. [10]
Небольшие изменения питающих напряжений регенеративного приемника, изменения параметров ламп и другие причины приводят к резкому изменению его чувствительности и избирательности и могут даже сделать прием совсем невозможным. Кроме того, регенеративные приемники создают сильные помехи соседним приемникам. [11]
![]() |
График изменений выходного напряжения усилителя постоянного тока, обусловленных дрейфом нуля.| Параллельно-балансные усилители постоянного тока. [12] |
Особенно сильно нестабильность источников питания проявляется в изменении параметров ламп, в частности в изменении крутизны анодно-сеточной характеристики лампы. Изменение напряжения питания накала ламп сопровождается изменением температуры катода и, как следствие, изменением крутизны анодно-сеточной характеристики. [13]
![]() |
Принципиальная схема влагомера с однокаскад-ным ламповым вольтметром. [14] |
В многокаскадных усилителях в качестве эффективного средства ослабления влияния изменений параметров ламп или напряжений питания применяется отрицательная обратная связь. [15]