Стол - микроскоп - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
В жизни всегда есть место подвигу. Надо только быть подальше от этого места. Законы Мерфи (еще...)

Стол - микроскоп

Cтраница 3


Контролируемое изделие укладывается на стол микроскопа или укрепляется в центрах, устанавливаемых на столе микроскопа. Искажение контура резьбы, проектируемое на окулярную сетку микроскопа, можно уменьшить, наклоняя головку микроскопа 3 с помощью маховичка 4 на угол, равный углу подъема резьбы. Угол наклона отмечается по отсчешому микроскопу 2 угловой шкалы.  [31]

Кроме уже рассмотренных случаев применения охлаждения Пельтье, его можно использовать также для охлаждения столов микроскопов, для автоматического определения точки росы, для получения стабильных температур ниже 0 С, что может оказаться необходимым при температурных измерениях, и для других целей. С другой стороны, такие элементы являются надежными источниками охлаждения для ядерных реакторов.  [32]

Вставляют образец в муфельную печь К до упора, снова нажимают рукоятку е и перемещают стол микроскопа так, чтобы фарфоровый наконечник N подвижного стержня Р коснулся конца образца.  [33]

34 Измерение основных элементов резьбы. [34]

Для уменьшения систематической погрешности от перекоса оси резьбы на некоторый угол у относительно направления перемещения стола микроскопа шаг и средний диаметр измеряют по обеим сторонам профиля и за результат принимают среднее арифметическое значение.  [35]

Совпадение лезвия пластины или острия стержня с осью валика проверяют в центрах, установленных на столе микроскопа. Лезвие валика ( острие стержня или др.) резко фокусируют, затем валик поворачивают на 180 и наблюдают в окуляр. Резкость изображения лезвия при этом не должна нарушаться.  [36]

Ввиду того, что последовательная наводка штриха 1 на стороны угла 2 и 3 производится поворотом угломерной шкалы и прямолинейным перемещением стола микроскопа, отсутствует необходимость совмещения вершины угла с центром перекрестия.  [37]

Для того чтобы можно было визировать центр отверстия 2, учитывая номинальные размеры расстояния, заменяем концевую меру 100 мм мерой 60 мм и, так как стол микроскопа следует продвинуть в направлении от измеряющего, то подложим в поперечном направлении концевую меру размером 10 мм.  [38]

Следующие ( 6, 7) про-филограммы двух сечений, смещенных относительно друг друга на 1, этот сдвиг позволяет оценить максимальную погрешность повторной установки круга на стол микроскопа.  [39]

Спектрограф должен находиться в помещении с мало меняющейся температурой, положение его призм должно быть постоянным; пластинки помещают на столик измерительного прибора так, чтобы спектры были параллельны направлению перемещения стола микроскопа.  [40]

В связи с тем, что предел измерения микрометрических винтов микроскопа равен 25 мм, для удобства измерения используют блок концевых мер 1 58 мм, который укладывают между опорными плоскостями микрометрического винта и упора каретки стола микроскопа. Развернув лимб на угол 60 в обратном направлении, продольным микрометрическим винтом подводят стол до совмещения плоскости Д четвертого выступа с центральным штрихом сетки головки микроскопа ( см. фиг.  [41]

Инструментальный микроскоп большой модели, выпускаемый в СССР, показан на фиг. Стол микроскопа 5 перемещается в двух взаимно перпендикулярных направлениях с помощью микрометрических винтов. Перемещение стола отмечается по нониусным барабанам 8 и 9, жестко связанным с микрометрическими винтами.  [42]

Инструмента л ь н ы и микроскоп большой модели БИМ, выпускаемый в СССР, показан на фиг. Стол микроскопа 5 перемещается в двух взаимно перпендикулярных направлениях с помощью микрометрических винтов. Перемещение стола отмечается по нониусным барабанам 8 и 9, жестко связанным с микрометрическими винтами.  [43]

Микровинт 2 для поперечного перемещения салазок микроскопа и микровинт 3 для продольного перемещения имеют цену деления 0 01 мм. Стол микроскопа 4 не имеет шкалы для отсчета углов поворота. Поворот стола осуществляется вращением винта 5 и служит только для регулировки положения измеряемого объекта.  [44]

45 Схемы измерений параметров резьб на микроскопах. [45]



Страницы:      1    2    3    4