Cтраница 1
Предметный стол микроскопа / перемещается в двух взаимно перпендикулярных направлениях с помощью микрометрических винтов 2 на 25 мм. [1]
На предметный стол микроскопа устанавливают угольник с размерами, показанными на фиг. К нему прикладывают измерительный нож, который помещают сначала на предметный стол, а затем с помощью концевой меры поднимают на высоту h - - - 5 0 1 мм. [2]
Погрешности микропары проверяют по образцовой штриховой шкале, устанавливаемой сначала на предметный стол микроскопа, а затем на две плитки, равные по размеру высоте оси центров, обычно обозначенной на крышке 45 ( фиг. Методы устранения погрешностей микропар сохраняются в основном те же, что и для инструментального микроскопа малой модели. Если износ микропары велик ( более 0 015 мм), что затрудняет возможность исправления ее, а также при наличии других дефектов, устранение которых невозможно, следует заменить микровинт или, что желательнее, целиком микропару. Основные характеристики микропары приведены на фиг. [3]
При измерении резьбовых деталей пользуются специальным центровым столиком 6, устанавливаемым на предметный стол микроскопа. Теневое изображение детали, освещаемой снизу, проектируется объективом на штриховую окулярную пластинку. Окуляром 12 изображение детали совместно со штрихами рассматривается глазом. [4]
Разрешающая способность микроскопов визуальным способом может быть определена по мире, которую устанавливают на предметный стол микроскопа. Минимальное расстояние между штрихами миры в линейной мере, которое различает глаз при наблюдении через микроскоп, дает величину разрешающей способности ( предел разрешения) микроскопа. В ряде случаев для определения разрешающей способности микроскопа используют естественные препараты, например диатомовые водоросли. Эти водоросли имеют мелкозернистую решетчатую структуру с размерами отверстий от 0 55 до 0 25 мкм. [5]
Микроскоп имеет объектив с несколько увеличенным свободным расстоянием ( 14 мм), окулярный микрометр и окулярную сетку с прямым крестом; для уменьшения явления дифракции света применен специальный длиннофокусный конденсор. Предметный стол микроскопа перемещается в продольном направлении. Величина перемещения стола измеряется концевыми мерами, закладываемыми между специальными упорами на столе и основанием микроскопа ( на фиг. При измерении отверстия, например, номинального диаметра 0 03 мм между упорами помещают концевую меру размером Т - 1 мм и наводят перекрестие окуляра на один край контура отверстия; затем между упорами помещают концевую меру Т1 размером 1 03лш и наводят перекрестие на другой край контура отверстия. [6]
Для проверки переходную втулку с опак-иллюминатором ОИ-1 и микрообъективом ОМ-12 ввертывают в тубус главного микроскопа. Опак-иллюминатор с микрообъективом путем вращения стеклянной пластинки, регулирования ирисовой диафрагмы, вращения или перемещения патрона с источником света настраивают так, чтобы было хорошее освещение измеряемого объекта. На предметный стол микроскопа устанавливают измеряемое кольцо и на него накладывают плоское пробное стекло. Вокруг точек контакта стекла с шариками кольца образуются интерференционные кольца, наблюдаемые в микроскоп. Если при этом наблюдается искаженная интерференционная картина, то шарики кольца следует повернуть. Кольцо сферометра устанавливают так, чтобы прямая, соединяющая центры наблюдаемых двух интерференционных колец, была параллельна ходу стола. Последовательно наводя перекрестие штриховой головки на центры колец, измеряют расстояния между центрами трех интерференционных картин, являющиеся расстояниями между центрами шариков опорного кольца. Измерения повторяют пять раз, каждый раз производя новую установку кольца. Из выполненных измерений вычисляют среднее арифметическое. [7]
Разработан метод, основанный на облучении полупроводника импульсами мощного лазера и регистрации параметров генерируемого при этом излучения второй гармоники. Интенсивность и степень поляризации этого излучения несут информацию о степени аморфизации подповерхностных слоев полупроводника, подвергнутого отжигу или т.п. процедурам. Излучение возбуждающего лазера фокусируется на объект микрообъективом, что обеспечивает высокое ( 1 мкм) пространственное разрешение. Образец сканируется с помощью цифрового микропривода предметного стола микроскопа. [8]
Микроскоп применяется также для разметочных работ. Разметочное приспособление состоит из корпуса, внутри которого перемещается шток. На конце штока имеется разметочный резец. Размечаемое изделие помещают на специальный накладной с гол, устанавливаемый на предметный стол микроскопа. [9]
Проверку весов начинают с внешнего осмотра, при котором можно обнаружить следы коррозии на деталях, заметные сколы или трещины в призмах и подушках и другие дефекты. Затем следует снять коромысло и тщательно проверить состояние призм и подушек. При рассмотрении подушки в отраженном свете на ее ловерхности легко обнаруживают следы волосяных трещин, а также след начинающейся вырабатываться призмой канавки. Состояние призм проверяют как органолептическими, так и инструментальным методами. Обнаружить ничтожные сколы или зазубрины лезвия удается только под микроскопом с трехсоткратным увеличением. Для этого призму устанавливают на предметный стол микроскопа и перемещением стола проводят через поле зрения окуляра по всей длине лезвия при боковом освещении рабочей грани. [10]