Cтраница 3
При исследовании влияния технологических режимов на формирование резисторов на основе сплава МЛТ-3 ( ширина 200 и 500 мкм) была проведена оценка влияния рассеянного света лампы ПРК-4 ( освещенность 19000 лк) и коллимированного света осветителя ОСЛ-1. Было выяснено, что при экспонировании коллимирован-ным светом 90 % всех резисторов имеют р 0 3 - ьО 9 мм, а при воздействии рассеянного света р 2 6 - 4 мкм. [31]
При работе в области 1860 - 2000 А, где заметно поглощение атмосферного кислорода, предусмотрена возможность продувания монохроматора сухим азотом для уменьшения влияния рассеянного света. [32]
Уменьшение влияния рассеянного света может быть достигнуто заменой пассивных ( нечувствительных к свету) резисторов фоторезисторами, не играющими роли рабочих приемников излучения. [33]
Рассеянный свет возникает в результате многократного отражения света от окружающих предметов, имеющих различную фактуру поверхности, а также под действием диффузного света небосвода. Под влиянием рассеянного света смягчаются резкие разграничения света и тени на поверхности объекта, что также способствует выявлению пластики и рельефа поверхности как в освещенных, так и в теневых частях. [34]
При работе на спектрофотометрах с широкой щелью, на фотоэлемент попадает свет, отраженный от различных частей прибора, что приводит к кажущемуся нарушению закона Бугера - Ламберта - Бера и снижению точности измерения. Для уменьшения влияния рассеянного света следует использовать светофильтры. В области длин волн от 320 до 400 нм рекомендуется3 применять светофильтр УФС-2, а в области 560 - 700 нм - светофильтр ОС-14. [35]
Для контроля влияния рассеянного света свет искры направлялся прямо на плоский электрод, заряженный отрицательно до потенциала 150 в. При этом было отмечено отклонение порядка 1 мм. Эта контрольная операция периодически повторялась в течение исследования для проверки установки. Следует упомянуть, что вопреки ожиданию работа искры не производила заметных шумов в цепи тока. При включении искры было отмечено сравнительно малое отклонение ( несколько десятых миллиметра), которое, кроме того, быстро исчезало. [36]
Экран 20 в шаре заслоняет фотоприемник от попадания на него пучка света, отраженного от противолежащего образцу участка шара. Для исключения влияния рассеянного света применена светоловушка 19, устанавливаемая к выходному отверстию шара вместо отражающего образца. [37]
С применением некоторых приборов влияние рассеянного света или уровня шумов ( фоновое излучение) таково, что невозможно измерить очень низкую степень мутности, и предпочтительно работать при длине волн 550 нм с шириной полосы 30 нм. В таких случаях проба не должна быть окрашена. [38]
В первую очередь необходимо избавиться от влияния рассеянного света. Это достигается уменьшением отверстия ирисовой диафрагмы коллекторной линзы, применением коррекционных светофильтров и в исключительных случаях уменьшением отверстия апертурной диафрагмы. [39]
Движение от рукоятки передается на отсчетное устройство 20 для установки длин волн. Одновременно с поворотом дифракционной решетки в световой поток вводятся светофильтры 29 для устранения влияния рассеянного света и высших порядков дифракции. [40]
Условиями устойчивых замеров являются установка прибора и гальванометра по уровню, правильная установка и постоянство режима питания осветительной лампы, постоянство силы светового пучка. Для этого прибор необходимо содержать в чистоте, способствующей уменьшению потерь на рассеяние и влияние рассеянного света, периодически смазывать соленоид стабилизатора и направляющие предметного столика, включать прибор в сеть за 10 - 15 мин до начала измерений. Иногда шкала дает погрешности только из-за того, что в микровыключателе сработались или загрязнились контакты. [41]
Единственным отличием является рост порога периферического ответа с увеличением яркости центра ( порог должен оставаться постоянным), однако его легко можно объяснить влиянием рассеянного света и логарифмической передачей рецепторов. [42]
Влияние рассеянного света особенно существенно, когда изучается спектральное распределение вблизи от области, где излучение источника имеет большую яркость. Это наиболее характерно проявляется при исследовании спектров поглощения, комбинационного рассеяния или флуоресценции. Способы учета и уменьшения влияния рассеянного света на результаты измерений рассматриваются в гл. [43]
Дифференциальные измерения на спектрофотометрах рекомендуется проводить не при Атах 410 нм, а при длине волны 390 нм, когда действие рассеянного света можно уменьшить с помощью светофильтра УФС-2. Обычно этот светофильтр рекомендуется использовать при измерениях в области 320 - 380 нм. Однако при дифференциальном способе измерений велико влияние рассеянного света, поэтому и при Х 390 нм необходимо работать с использованием указанного светофильтра. [44]
Величину этого шума обычно снижают, используя источник излучения, яркость которого значительно больше яркости пламени, так что сигнал пламени становится пренебрежимо малым по сравнению с сигналом источника. Детектор фотоумножителя имеет максимальную чувствительность в спектральной области от 3500 до 4500 А и относительно нечувствителен к дальней красной области спектра. Поскольку определение рубидия производится близко к длинноволновому пределу диапазона фотоумножителя, влияние рассеянного света и вторичного излучения становится весьма значительным. Это влияние можно уменьшить, установив между пламенем и приемником фильтр ( Jena RG8), который сильно поглощает излучение более коротковолновой спектральной области, чем красная. Но даже при использовании этого фильтра показания спектрометра модели 303 с источником излучения - лампой с полым катодом - указывают на наличие помех, вносимых пламенем. Разрядные лампы, обладающие высокой яркостью, позволяли получать сигнал с величиной шума 0 1 % даже в тех случаях, когда горело пламя. [45]