Cтраница 2
В рамках метода проб и ошибок интенсивности отражений используются главным образом для проверки уже найденных вариантов строения кристалла. Однако в некоторых случаях сопоставление интенсивности различных отражений друг с другом может служить источником косвенных данных о расположении атомов наряду с кристаллохимическими и прочими представлениями. Чаще всего такая возможность возникает при исследовании относительно простых структур. Но иногда и сложные по строению кристаллы дают характерные особенности в распределении интенсив-ностей по отражениям, бросающиеся в глаза уже при первом, чисто качественном обзоре дифракционной картины и позволяющие делать определенные заключения о строении кристалла. Такого рода особенности органически включаются в общий ряд косвенных суждений, на основании которых производится синтез структуры в методе проб и ошибок. Они и рассматриваются в настоящем разделе. [16]