Cтраница 1
Схема расположения полей, а также величины допусков калибров приняты с большим приближением к допускам калибров для крепежных резьб малых размеров. Значительно увеличены лишь допустимые отклонения для половины угла профиля, исходя из больших погрешностей измерения этого элемента при таких малых шагах. Кроме того, регламентируется ограничение суммы действительных погрешностей шага, половины угла профиля и собственно среднего диаметра, необходимость в чем возникает в результате сопоставления величин допусков калибров с величинами допусков изделий. [1]
Схема расположения полей, а также величины допусков калибров приняты с большим приближением к допускам калибров для крепежных резьб малых размеров. Значительно увеличены лишь допустимые отклонения для половины угла профиля исходя из больших погрешностей измерения этого элемента при таких малых шагах. Кроме того, регламентируется ограничение суммы действительных погрешностей шага, половины угла профиля и собственно среднего диаметра, необходимость в чем возникает в результате сопоставления величин допусков калибров с величинами допусков изделий. [2]
Схема расположения полей, а также величины допусков калибров приняты с большим приближением к допускам калибров для крепежных резьб малых размеров. Значительно увеличены лишь допустимые отклонения для половины угла профиля, исходя из больших погрешностей измерения этого элемента при таких малых шагах. Кроме того, регламентируется ограничение суммы действительных погрешностей шага, половины угла профиля и собственно среднего диаметра, необходимость в чем возникает в результате сопоставления величин допусков калибров с величинами допусков изделий. [3]
Схема расположения полей допу-скон бокового зазора в передаче. [4]
Схема расположения первичных проекционных и ассоциативных полей в корковой зрительной системе обезьяны-резус. [5]
![]() |
Схема расположения областей кристаллизации синтетических цеолитов на треугольной диаграмме составов ( схема не учитывает содержания Н20 и относится к различным температурам. [6] |
Это находит подтверждение на схеме расположения полей кристаллизации натриевых цеолитов на диаграмме рис. 7.2 Как видно из этой схемы, морденит с наибольшим отношением Si: А1 5, известным для цеолитов, кристаллизуется в области составов, наиболее богатых Si02; цеолит Ж с наименьшим отношением Si: А11 кристаллизуется в наименее кремнеземной области составов. [7]
На рис. 161, б показана схема расположения полей припусков применительно к приведенному ранее технологическому маршруту обработки наружной цилиндрической поверхности, в котором тонкое точение заменено шлифованием. Из нее видно, что общий припуск в результате смещения поля минимального припуска на шлифование несколько изменяется. [8]
Перед составлением плана работ хозяйства предоставляют пилоту схему расположения полей, подлежащих4 обработке, с тем, чтобы он мог ею руководствоваться при определении маршрута. [9]
Неизвестно, как следует сформулировать правила игры, чтобы схему расположения надежных полей можно было перенести на неограниченные доски. [10]
Ответственность за выполнение требований с учетом метеорологических параметров возлагается на руководителя работ, который измеряет температуру и скорость ветра. При авиаопрыскивании руководитель работ предоставляет пилоту схему расположения полей для составления машрутов полета. При разворотах самолета пилот следит, чтобы пестициды не разбрызгивались над дорогами, постройками и полями, где работают люди. Авиаопрыскивание и аэрозольные обработки запрещается проводить при недостаточном удалении ( ближе 1 км) фронта работ от населенных пунктов, усадеб, скотных дворов, птичников, источников водоснабжения; удаленность от рыбохозяйственных водоемов должна быть в 2 раза больше. Если растения опрыскивают с помощью ранцевой аппаратуры, рабочие должны находиться на расстоянии не менее 5 - 6 м друг от друга. [11]
Непосредственное значение для себестоимости контролируемой продукции имеет также уменьшение допуска изделия, вызываемое погрешностью измерительного средства. Применение сравнительно более грубых средств измерения неизбежно вызывает уменьшение производственного допуска изделий. В общем виде схема расположения полей погрешностей измерений ( без учета вероятностей погрешностей измерения и отклонений размеров контролируемых объектов) приведена на фиг. [12]