Cтраница 4
Счет входных импульсов, кроме перечисленных принципов, реализуется также путем изменения заряда некоторой емкости в зависимости от каждого входного импульса. Емкостная накопительная ячейка может иметь п устойчивых состояний. UQ при помощи формирователя Ф1, обеспечивают стабильные приращения напряжения на емкостном накопителе Я. Когда напряжение на накопителе достигнет уровня срабатывания блока сравнения БСр, через схему сброса Сбр накопитель сбрасывается в исходное состояние. [46]
Аналогичные явления могут возникнуть, если сопротивление нагрузки анодной цепи впаяно недостаточно близко к цоколю лампы. В этом случае паразитная емкость между сопротивлением и землей может существенно уменьшить скорость нарастания анодного напряжения по сравнению со скоростью увеличения напряжения на подкатодах. Возрастающее далее анодное напряжение может вызвать зажигание разряда уже в каком-либо другом разрядном промежутке. Для устранения описанных нежелательных явлений наибольшая скорость нарастания и спада управляющих импульсов не должна превышать 100 в / мксек, а постоянная времени при включении напряжения питания должна быть не меньше 1 мсек. При подаче питающего напряжения с помощью ключа необходимо вводить в цепь питания развязывающую цепочку, содержащую, например, сопротивление 10 ком и конденсатор 0 1 мкф. Точно также постоянная времени схемы сброса не должна быть меньше 1 мсек. [47]
Мы уже упоминали о том, что генерирование тестов является гораздо более трудной задачей для последова-челыюстных, чем для комбинационных, схем. Формальный подход к этой проблеме - попытаться разработать алгоритмы, точно так же, как это было сделано для комбинационных схем. Во-первых, каждый возможный проверочный вход, как правило, нужно вычислять для каждого возможного состояния схемы. Следовательно, каждый элемент памяти, содержащийся в рассматриваемой схеме, удваивает объем вычислений, необходимых для отыскания теста. Во-вторых, существует проблема начальной установки. Прежде чем мы сможем применить некоторый тест к последовательностнон схеме, мы должны суметь установить ее в известное фиксированное состояние; или в крайнем случае мы должны знать, в каком состоянии она находится. Это может быть сделано, если первому тесту предшествует установочная последовательность. Они могут быть очень длинными, а для некоторых последовательностных схем могут и вовсе не существовать. Альтернативный подход состоит в том, чтобы для выполнения такой операции иметь специальные схемы сброса. Оба метода должны быть пригодными как для схемы, свободной от неисправности, так и для всех схем с неисправностями. В случае применения специальных схем сброса необходимо учитывать неисправности самих схем сброса. Более того, если используется комбинаторное тестирование, то каждый тест должен начинаться либо с установочной последовательности, либо с работы схем сброса. [48]
Мы уже упоминали о том, что генерирование тестов является гораздо более трудной задачей для последова-челыюстных, чем для комбинационных, схем. Формальный подход к этой проблеме - попытаться разработать алгоритмы, точно так же, как это было сделано для комбинационных схем. Во-первых, каждый возможный проверочный вход, как правило, нужно вычислять для каждого возможного состояния схемы. Следовательно, каждый элемент памяти, содержащийся в рассматриваемой схеме, удваивает объем вычислений, необходимых для отыскания теста. Во-вторых, существует проблема начальной установки. Прежде чем мы сможем применить некоторый тест к последовательностнон схеме, мы должны суметь установить ее в известное фиксированное состояние; или в крайнем случае мы должны знать, в каком состоянии она находится. Это может быть сделано, если первому тесту предшествует установочная последовательность. Они могут быть очень длинными, а для некоторых последовательностных схем могут и вовсе не существовать. Альтернативный подход состоит в том, чтобы для выполнения такой операции иметь специальные схемы сброса. Оба метода должны быть пригодными как для схемы, свободной от неисправности, так и для всех схем с неисправностями. В случае применения специальных схем сброса необходимо учитывать неисправности самих схем сброса. Более того, если используется комбинаторное тестирование, то каждый тест должен начинаться либо с установочной последовательности, либо с работы схем сброса. [49]