Схема - дефектоскоп
Cтраница 3
 |
Схема ультразвукового дефектоскопа, раб-лающего по теневому методу. [31] |
Теневой метод основан на появлении за дефектом звуковой тени при прохождеЕШи ультразвука через деталь, помещенную между излучателем колебаний и приемным устройством. На рис. 4.10, а, б представлена схема дефектоскопа, работающего по принципу теневого метода. Высокочастотные электрические колебания, вырабатываемые генератором 1, издаются на пьезоэлектрический преобразователь 2, в котором преобразуются в механические колебания ультразвуковой частоты. При этом на регистрирующем приборе 7 отсутствуют показания, что свидетельствует о наличии дефекта. [32]
Дефектоскоп имеет одну частоту колебаний, равную 2 5 Мгц, и настроен на прозвучивание сварных швоз от 2 до 50 мм. В схему дефектоскопа введена автоматическая регулировка усиления, выполненная то схеме дефектоскопа УЗД-7Н. Дефектоскоп работает с теми же щупами, что и дефектоскоп УЗД-7Н. На рис. 3 - 62 показана ультразвукограмма плиты толщиной 2мм с дефектом в ей в виде трещины, выявленной при помощи описанного дефектоскопа. [33]
Синхронизатор 1 импульсом Uc одновременно запускает генератор радиоимпульсов 2, генератор основной развертки 9, глубиномер 8, генератор импульсов подсвета грубо 11 и схему временной регулировки чувствительности ( ВРЧ) усилителя радиоимпульсов. Благодаря такому режиму запуска ( ждущему режиму) обеспечивается строгая синхронность работы всей схемы дефектоскопа. [34]
В 12-ка-нальных приборах АД-50У и АД-60С для настройки и оценки результатов служит визуализирующее спектр световое табло; двухканальный прибор АД-20УП настраивают по стрелочному индикатору. Структурная схема дефектоскопа АД-60С для контроля - МСК и импедансным методом с раздельно-совмещенным ( PC) преобразователем ( рис. 104) отличается от схемы дефектоскопа АД-50У наличием дополнительных узлов для реализации им-педансного метода. Для контроля МСК используются преобразователи с ударными вибраторами и пьезоэлектрическими ( ПДУ-1, ПДУ-2) или микрофонным ( ПДУ-3) приемниками. [35]
 |
Коэффициент отражения в зависимости от толщины расслоения для различных значений б / EQ сред.| Схема поляризационного дефектоскопа с использованием падающих волн круговой поляризации. [36] |
Например, если схему ( см. рис. 31 6) запи-тать от рабочего плеча схемы ( см. рис. 31, а), а рядом с парой приемно-передающих антенн дифференциального дефектоскопа расположить ортогонально и симметрично пару приемных антенн, подключенных к третьему тройнику, то получим схему трехканального дефектоскопа, реализующего сразу три метода: амплитудно-фазовый с приемным плечом, амплитудно-фазовый дифференциальный и поляризационный, что повышает надежность контроля. [37]
 |
Коэффициент отражения в зависимости от толщины расслоения для различных значений Е / EQ сред.| Схема поляризационного дефектоскопа с использованием падающих волн круговой поляризации. [38] |
Например, если схему ( см. рис. 31, б) запи-тать от рабочего плеча схемы ( см. рис. 31, а), а рядом с парой приемно-передающих антенн дифференциального дефектоскопа расположить ортогонально и симметрично пару приемных антенн, подключенных к третьему тройнику, то получим схему трехканального дефектоскопа, реализующего сразу три метода: амплитудно-фазовый с приемным плечом, амплитудно-фазовый дифференциальный и поляризационный, что повышает надежность контроля. [39]
Например, если схему ( см. рис. 28, б) запитать от рабочего плеча схемы ( см. рис. 28, а), а рядом с парой прием-но-передающих антенн дифференциального дефектоскопа расположить ортогонально и симметрично пару приемных антенн, подключенных к третьему тройнику, то получим схему трехканального дефектоскопа, реализующего сразу три метода: амплитудно-фазовый с опорным плечом, амплитудно-фазовый дифференциальный и поляризационный, что повышает надежность контроля. [40]
Между-полюсный зазор может быть получен от 0 до 300 мм. Прибор показан на фиг. Схема дефектоскопа для циркулярного намагничивания показана на фиг. [41]
СВЧ методов: амплитудный, фазовый, амплитудно-фазовый, поляризационный, геометрический и поверхностных волн. На рис. 28 приведены схемы типичных амплитудно-фазовых дефектоскопов, применяемых для контроля большинства локальных, протяженных и структурных типов дефектов. Схема дефектоскопа на рис. 28, а использует двойной волноводный тройник в качестве СВЧ моста. [42]
 |
Каскадная схема дефектоскопа УЗД-НИИМ-2, с записывающим устройством. [43] |
На рис. 3 - 58 ( приведена блок-схема этого дефектоскопа. Как видно из схемы, в дефектоскопе, кроме обычных основных элементов, принципиально тех же, что и в предыдущих описанных дефектоскопах, имеется возможность производить индикацию результатов прозвучивания как ва электронно-лучевой трубке, так и на телефои ( звуковой сигнал) и записывать их на бумагу в виде ультразвукограммы. Для этого в схеме дефектоскопа имеются дополнительные приспособления, при помощи которых производится автоматическое перемещение щупа, а также устройство для запуска электромагнитного приспособления с самопишущим пером. Во время испытания изделия щуп дефектоскопа автоматически перемещается как в продольном, так и в поперечном направлениях ( рис. 3 - 59), чем достигается возможность исследовать полностью всю поверхность ( или объем сварного шва) изделия. [44]
Для контроля изделий способом на отражение используют ряд СВЧ-методов: амплитудный, фазовый, амплитудно-фазовый, поляризационный, геометрический и поверхностных волн. На рис. 31 приведены схемы типичных амплитудно-фазовых дефектоскопов, применяемых для контроля большинства локальных, протяженных и структурных типов дефектов. Схема дефектоскопа на рис, 31, а использует двойной волновод-ный тройник в качестве СВЧ-моста. [45]
Страницы: 1 2 3 4