Проверяемая схема

Cтраница 1

Проверяемая схема и все блоки стенда связаны с помощью поля коммутации, которое позволяет создавать различные измерительные схемы при проверке различных узлов. Поле выполнено в виде трех параллельно расположенных 30-контактных гнездовых разъемов, на контакты которых выведены все коммутируемые цепи. Коммутация осуществляется путем вставки укрепленных на скобе ножевых 30-контактных разъемов с коммутационными перемычками. Это позволяет быстро настраивать стенд для проверки новых типов схем и дает возможность значительно сократить число элементов стенда, поскольку любой из элементов может быть включен в любую цепь. На поле коммутации находится также вывод щупа, который обычно соединен со входом регистратора импульсов; с его помощью можно соединить любую точку схемы с полем коммутации. [1]

Схема снндромного тестирования комбинационных схем. [2]

На проверяемую схему подаются от счетчика все входные наборы. [3]

С помощью разъемов проверяемые схемы подсоединяют к стенду; все внешние цепи и контрольные точки выводят на поле коммутации. Там же размещают все коммутационные и сигнальные элементы и измерительные приборы, необходимые для проверки и настройки схем и микроузлов. Генератор токовой частоты встраивают в стенд или же устанавливают отдельно для обслуживания нескольких стендов. [4]

Схема вероятностного некомпактного тестирования 242. [5]

Поэтому при ВКТ проверяемая схема считается исправной, если результат отличается от эталона на величину, не превышающую е и называемую допустимым отклонением. [6]

При наличии в проверяемой схеме защиты фильтра напряжения обратной последовательности измеряется напряжение небаланса на его выходе, величина которого обычно не превышает 2 - 3 В. [7]

На рис. 9.6 приведена структура проверяемой схемы. Проверка начинается с линий со старшими номерами. [8]

Источник для наладки релейных систем. [9]

При нажатии кнопки 2 в проверяемую схему подается напряжение постоянного тока с наложенным на него импульсом с амплитудой до 220 В. [10]

Схема вероятностного некомпактного тестирования 242. [11]

Сжатый результат даже в случае неисправности проверяемой схемы может не дать точного совпадения с эталоном, а быть лишь достаточно близким к нему. Причиной этого является неодинаковое начальное состояние тестируемых схем с памятью или генераторов случайных наборов. [12]

Анализаторы временных диаграмм фиксируют состояния контрольных точек проверяемой схемы в моменты времени, которые задаются независимо работающим тактовым внутренним генератором анализатора. [13]

Схема вероятностного некомпактного тестирования 242. [14]

Вероятностное компактное тестирование ( ВКТ) выполняется за два или три шага в зависимости от проверяемой схемы - комбинационной или с памятью. На первом шаге для схем с памятью, носящем название инициализации, на них подается длинная последовательность случайных наборов, цель которой - установка схем в исходное состояние. [15]

Страницы: 1 2 3