Cтраница 3
В оптической схеме микроскопа этого типа [1] отсутствует осветительная система, а источником электронов является сам образец, поверхность которого или предварительно активируется ( покрывается тонким слоем некоторых веществ, снижающих работу выхода электронов), или непрерывно бомбардируется косым пучком ионов или электронов из специальной ионной или электронной пушки. Для достаточно интенсивной первичной эмиссии образец необходимо нагревать по меньшей мере до 600 - 800, вторичная эмиссия с поверхности, бомбардируемой ионами, может быть получена при любой iero температуре. После создания технически совершенных приборов для исследования вторичных эмиттеров электронные микроскопы этого типа, несомненно, получат широкое применение в металловедении, причем не только для изучения процессов рекристаллизации, к. [31]
На рис. 166 представлена оптическая схема микроскопа. [32]
На рис. 1 приведена оптическая схема микроскопа МИМ-7. Микроскоп представляет собой комбинацию двух увеличивающих оптических систем - объектива 12 и окуляра 19, разделенных значительным расстоянием. Исследуемый шлиф помещают на предметный столик 13 перед объективом, немного дальше его фокуса так, что объектив дает увеличенное действительное изображение структуры. Это изображение при помощи линзы 14 переносится в плоскость, близкую к фокусу окуляра. [33]
В зависимости от условий работы оптическая схема микроскопа может быть выполнена в нескольких вариантах. На рис. 11.38 приведен вариант для работы в проходящем свете. [34]
На рис. 57, б приведена оптическая схема микроскопа. От источника света / через диафрагму 2 и светофильтр 3 пучок лучей направляется на призму 4, преломляется з ней и направляется кверху, проходит через конденсор 5 и стекло 6 измерительного стола, освещая деталь. [35]
Разрешающая способность автоматизированного телевизионного анализатора может регулироваться изменением кратности; увеличения оптической схемы микроскопа в достаточно широких; пределах. В дальнейшем надежность и возможности анализатора; АТА-1 могут быть значительно повышены за счет применения сканирующего стола с автоматическим поиском полей на фильтре. [36]
Общий вид микроскопа представлен на фиг. Оптическая схема микроскопа изображена на фиг. [37]