Принципиальная оптическая схема
Cтраница 4
На рис. 10 представлена принципиальная оптическая схема интерферометрического газоанализатора. Интерференционная картина получается с помощью плоскопараллельной пластины ( зеркала) / и верхней призмы 3, поставленных под углом друг к другу. [46]
На рис. 7 представлена принципиальная оптическая схема одно-призмеиного спектрального прибора. [47]
 |
Конденсор ОИ-10. [48] |
На рис. 1.15 представлена принципиальная оптическая схема осветительного устройства металлографического микроскопа по методу светлого ( рис. 1.15, о) и темного ( рис. 1.15, б) поля. Схема светлого поля обеспечивает нормальное освещение по Келеру. [49]
На рис. XII.2 в качестве примера представлена принципиальная оптическая схема фурье-спектрометра, построенного по принципу Майкельсона. Поток ИК излучения от источника /, модулированный прерывателем 2, делится светоделителем 4 на два пучка. Один из них направляется на зеркало 3, которое связано микрометрической передачей с двигателем и может поступательно перемещаться с определенной длиной пробега и возвращаться в исходное положение. При движении зеркала 3 и интерференции пучков с изменяющейся разностью хода происходит сканирование в определенном спектральном диапазоне. [50]
 |
Сравнение точности измерения оптической плотности раствора и фотометрического определения при разных длинах волн поглощаемого света. [51] |
На рис. 131 показан общий вид и принципиальная оптическая схема широко распространенного спектрофотометра СФ-4А. Рабочий диапазон этого прибора находится в пределах длин волн 220 - 1100 нм. Более сложный по устройству спектрофотометр СФ-9 дает возможность автоматически регистрировать спектр пропускания и излучения в области 186 - 2500 нм. [52]
Интерферометры Цендера-Маха и Рождественского, имея одну и ту же принципиальную оптическую схему, отличаются способом их настройки. Интерферометр Цендера-Маха применяется главным образом для исследования неоднородностей протяженных объектов и, как правило, имеет большие размеры. [53]
Принцип действия приборов светового сечения основан на получении профиля исследуемой поверхности С помощью наклонно направленного к этой поверхности светового пучка, Принципиальная оптическая схема двойного микроскопа МИС-П, который работает по методу светового сечения, показана на рис. 5, а. Под действием неровностей световая полоска, образующаяся на исследуемой поверхности, искривляется. Форма световой полоски соответствует форме профиля исследуемой поверхности. [54]
Выбор метода синтеза концентрирующей системы зависит от требований к точности обеспечения заданного распределения облученности на приемнике и среднего уровня концентрирования, а также ряда других факторов, но во всех случаях синтез необходим как этап предварительного обоснования принципиальной оптической схемы системы КСИ, для которой затем уже методами анализа определяются детальные энергетические характеристики. В целом же модели и методы анализа и синтеза систем КСИ должны дополнять друг друга в едином итерационном процессе выбора оптимальной системы для заданных условий применения. [55]
Принципиальная оптическая схема такого фотометра представлена на рис. 1.14. Анализируемый раствор распыляется сжатым воздухом в распылителе 2 и подается в пламя 5 в виде аэрозоля. Устойчивый и мелкодисперсный аэрозоль увлекается в пламя, предварительно смешиваясь с горючим газом. В блоке питания 15 находятся автокомпенсационные стабилизаторы и преобразователь напряжения. [56]
Электронные микроскопы по электронно-оптическим системам разделяются на электростатические и электромагнитные. Принципиальная оптическая схема электронных микроскопов аналогична схемам световых микроскопов с той лишь разницей, что оптические элемены последних заменены электрическими эле -; ментами. Источником электронов является электронная пушка, состоящая из катода, управляющего электрода и анода. Электронная пушка создает пучок быстрых электронов, который с помощью конденсорной линзы формируется и направляется через конденсорную диафрагму D на исследуемый объект. Получение контрастного изображения в электронном микроскопе обусловлено тем, что различные участки образца по-разному рассеивают проходящие через них электроны. [57]
Электронные микроскопы по электронно-оптическим системам разделяются на электростатические и электромагнитные. Принципиальная оптическая схема электронных микроскопов аналогична схемам световых микроскопов с той лишь разницей, что оптические элементы последних заменены электрическими элементами. [58]
Электронооптический анализ основан на волновых свойствах электронов и делится на микроскопический, проводимый в электронном микроскопе, и дифракционный, изучающий атомно-кри-сталлическое строение вещества в электронографе или электронном микроскопе. На рис. 45 показана принципиальная оптическая схема электронографа. [59]
Сначала рассмотрим понятие пространственной когерентности на конкретном примере работы интерферометра. На рис. 2.1, а изображена принципиальная оптическая схема Майкельсона для наблюдения интерференционных полос. При некотором неравенстве отрезков 0В и 0В и не строгой перпендикулярности зеркал М1 и М2 будет иметь место такая же интерференция, как в клине; при строгой перпендикулярности зеркал будет наблюдаться интерференция, аналогичная той, которую мы имели бы в плоскопараллельной пластинке. [60]
Страницы: 1 2 3 4 5