Счетчик - элементарная частица - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Легче изменить постановку задачи так, чтобы она совпадала с программой, чем наоборот. Законы Мерфи (еще...)

Счетчик - элементарная частица

Cтраница 1


Счетчик элементарных частиц - электровакуумный прибор, предназначенный для регистрации отдельных элементарных частиц, которые, пролетая в пространстве между анодом и катодом, вызывают ионизацию газа и изменение сопротивления промежутка катод-анод.  [1]

В настоящее время основным счетчиком элементарных частиц является счетчик Гейгера - Мюллера.  [2]

3 Цилиндрическая конструкция электродов диода. [3]

Особое место занимают рентгеновские трубки, счетчики элементарных частиц и другие специальные приборы.  [4]

При-меняется для изготовления катодного слоя в счетчиках элементарных частиц и излучений и для других целей.  [5]

Применяют для изготовления катодного слоя в счетчиках элементарных частиц и излучений и для других целей. Дисперсность и агрегативная устойчивость препарата может уменьшаться не более чем на 5.4 от начальной на глубине 10 еж ( при температуре 20) в суспензии, разбавленной в 5 раз дистиллированной водой, после отстаивания в течение 3 часов. Препарат считают пригодным к употреблению, если образцы выдерживают испытание на содержание радиоактивных загрязнений.  [6]

Применяют для изготовления катодного слоя в счетчиках элементарных частиц и излучений и для других целей. Дисперсность и агрегативная устойчивость препарата может уменьшаться не более чем на 5 % от начальной на глубине 10 см ( при температуре 20) в суспензии, разбавленной в 5 раз дистиллированной водой, после отстаивания в течение 3 часов. Препарат считают пригодным к употреблению, если образцы выдерживают испытание на содержание радиоактивных загрязнений.  [7]

Немецкий физик Ханс Гейгер ( 1882 - 1945) создает простой радиационный счетчик элементарных частиц.  [8]

Применяется в устройствах измерений слабых лучистых потоков, суперортиконах, счетчиках элементарных частиц, фототелегр.  [9]

В настоящее время широкое применение нашли приборы, в которых дифракционные лучи фиксируются счетчиком элементарных частиц. При этом вращение кристалла производится скачками от одного дифракционного положения к другому с одновременным изменением позиции счетчика. Имеются трехкружные дифрактомет-ры, которые аналогичны камере вращения: кристалл вращается вокруг одной из своих кристаллографических осей, а счетчик перемещается вдоль выбранной слоевой линии. В современных четы-рехкружных дифрактометрах необходимость в предварительном совмещении кристаллографической оси с осью вращения отпадает. Путем поворота кристалла вокруг трех пересекающихся осей любое дифракционное направление выводят в экваториальную плоскость прибора, а счетчик смещают на это направление поворотом держателя счетчика вокруг вертикальной оси.  [10]

КГВС - водная суспензия высокодисперсного графита, стабилизированная раствором антисептированного агар-агара; препарат РП - для счетчиков элементарных частиц; препарат коллоидно-графитовый СБГ - на основе лака СБС-1 для поглощающего покрытия; препарат коллоидно-графитовый ЭЛПВ - для электропроводящих покрытий.  [11]

КГВС - водная суспензия высокодисперсного графита, стабилизированная раствором антисептированного агар-агара; препарат РП - для счетчиков элементарных частиц; препарат коллоидно-графитовый СВГ - на основе лака СБС-1 для поглощающего покрытия; препарат коллоидно-графитовый ЭЛПВ - для электропроводящих покрытий.  [12]

Однако основное направление развития техники рент-геноструктурного анализа связано с автоматизацией приборов, регистрирующих дифракционные лучи с помощью счетчиков элементарных частиц.  [13]

Однако основное направление развития техники рент-геноструктурного анализа связано с автоматизацией приборов, регистрирующих дифракционные лучи с помощью счетчиков элементарных частиц. Схема работы автоматического дифрактометра, сочлененного с двумя электронными вычислительными машинами, в общих чертах выглядит следующим образом.  [14]

Однако основное направление развития техники рент-геноструктурного анализа связано с автоматизацией приборов, регистрирующих дифракционные лучи с помощью счетчиков элементарных частиц.  [15]



Страницы:      1    2