Cтраница 1
Счетчик элементарных частиц - электровакуумный прибор, предназначенный для регистрации отдельных элементарных частиц, которые, пролетая в пространстве между анодом и катодом, вызывают ионизацию газа и изменение сопротивления промежутка катод-анод. [1]
В настоящее время основным счетчиком элементарных частиц является счетчик Гейгера - Мюллера. [2]
![]() |
Цилиндрическая конструкция электродов диода. [3] |
Особое место занимают рентгеновские трубки, счетчики элементарных частиц и другие специальные приборы. [4]
При-меняется для изготовления катодного слоя в счетчиках элементарных частиц и излучений и для других целей. [5]
Применяют для изготовления катодного слоя в счетчиках элементарных частиц и излучений и для других целей. Дисперсность и агрегативная устойчивость препарата может уменьшаться не более чем на 5.4 от начальной на глубине 10 еж ( при температуре 20) в суспензии, разбавленной в 5 раз дистиллированной водой, после отстаивания в течение 3 часов. Препарат считают пригодным к употреблению, если образцы выдерживают испытание на содержание радиоактивных загрязнений. [6]
Применяют для изготовления катодного слоя в счетчиках элементарных частиц и излучений и для других целей. Дисперсность и агрегативная устойчивость препарата может уменьшаться не более чем на 5 % от начальной на глубине 10 см ( при температуре 20) в суспензии, разбавленной в 5 раз дистиллированной водой, после отстаивания в течение 3 часов. Препарат считают пригодным к употреблению, если образцы выдерживают испытание на содержание радиоактивных загрязнений. [7]
Немецкий физик Ханс Гейгер ( 1882 - 1945) создает простой радиационный счетчик элементарных частиц. [8]
Применяется в устройствах измерений слабых лучистых потоков, суперортиконах, счетчиках элементарных частиц, фототелегр. [9]
В настоящее время широкое применение нашли приборы, в которых дифракционные лучи фиксируются счетчиком элементарных частиц. При этом вращение кристалла производится скачками от одного дифракционного положения к другому с одновременным изменением позиции счетчика. Имеются трехкружные дифрактомет-ры, которые аналогичны камере вращения: кристалл вращается вокруг одной из своих кристаллографических осей, а счетчик перемещается вдоль выбранной слоевой линии. В современных четы-рехкружных дифрактометрах необходимость в предварительном совмещении кристаллографической оси с осью вращения отпадает. Путем поворота кристалла вокруг трех пересекающихся осей любое дифракционное направление выводят в экваториальную плоскость прибора, а счетчик смещают на это направление поворотом держателя счетчика вокруг вертикальной оси. [10]
КГВС - водная суспензия высокодисперсного графита, стабилизированная раствором антисептированного агар-агара; препарат РП - для счетчиков элементарных частиц; препарат коллоидно-графитовый СБГ - на основе лака СБС-1 для поглощающего покрытия; препарат коллоидно-графитовый ЭЛПВ - для электропроводящих покрытий. [11]
КГВС - водная суспензия высокодисперсного графита, стабилизированная раствором антисептированного агар-агара; препарат РП - для счетчиков элементарных частиц; препарат коллоидно-графитовый СВГ - на основе лака СБС-1 для поглощающего покрытия; препарат коллоидно-графитовый ЭЛПВ - для электропроводящих покрытий. [12]
Однако основное направление развития техники рент-геноструктурного анализа связано с автоматизацией приборов, регистрирующих дифракционные лучи с помощью счетчиков элементарных частиц. [13]
Однако основное направление развития техники рент-геноструктурного анализа связано с автоматизацией приборов, регистрирующих дифракционные лучи с помощью счетчиков элементарных частиц. Схема работы автоматического дифрактометра, сочлененного с двумя электронными вычислительными машинами, в общих чертах выглядит следующим образом. [14]
Однако основное направление развития техники рент-геноструктурного анализа связано с автоматизацией приборов, регистрирующих дифракционные лучи с помощью счетчиков элементарных частиц. [15]