Дифракционная теория

Cтраница 1

Дифракционная теория особенно важна в тех случаях, когда с точки зрения геометрической оптики изображение идеально. В схеме КВС лучи, лежащие в плоскости фокусировки накачки XZ, формируют безаберрационыое изображение при произвольных апертурах. [1]

Дифракционная теория разрешающей способности микроскопа устанавливает предел наименьших размеров Дл:, которые могут быть найдены с помощью микроскопа. [2]

Дифракционная теория разрешающей способности микроскопа устанавливает предел наименьших размеров Ах, которые могут быть найдены с помощью микроскопа. [3]

Дифракционная теория разрешающей способности микроскопа устанавливает предел наименьших размеров Ах, которые могут быть определены с помощью микроскопа. [4]

Согласно дифракционной теории, изображение, которое дает объектив, микроскопа, является результатом интерференции лучей, испытавших дифракцию на объекте. [5]

Успех дифракционной теории показывает, что можно по-прежнему опираться и ссылаться на величину параметра / даже тогда, когда / у лее трудно назвать расстоянием, которое электрон проходит между двумя последовательными точечными актами рассеяния. [6]

Аббе создал дифракционную теорию действия микроскопа, в которой процесс образования изображения рассматривается как результат вторичной интерференции дифракционных спектров. Рассуждения Аббе совершенно аналогичны соображениям, разобранным выше ( § 32), при анализе образования изображения ультразвуковых волн. Согласно Аббе для получения изображения необходимо, чтобы сквозь объектив микроскопа, кроме спектра нулевого порядка, прошли хотя бы спектры первого порядка. Отсюда получается условие для наименьшего угла охвата лучей объективом и ( угловая апертура) sin и - j, где d - расстояние между еще различными деталями. [7]

К формуле. связь между углом упругого рассеяния в и модулем переданного импульса q. [8]

Таким образом, дифракционная теория предсказывает нетривиальную зависимость от валентности знака температурного коэффициента сопротивления жидких металлов: у щелочных и трехвалентных металлов сопротивление должно расти с ростом температуры, а у двухвалентных - падать. Как видно из таблицы, где приведены данные о температурном коэффициенте сопротивления для ряда металлов, дело именно так и обстоит. [9]

За последние годы дифракционная теория микроскопического изображения получила новое, очень важное практическое применение: была решена задача различения прозрачных деталей, мало отличающихся по своему показателю преломления. К таким объектам относятся детали внутреннего строения микроорганизмов. Даже при достаточном размере, эти детали остаются невидимыми из-за отсутствия контраста. Оказалось, что, изменяя условия вторичной интерференции дифракционных спектров, можно сделать такие детали видимыми. Для этого в главной фокальной плоскости объектива помещают тонкую, прозрачную пластинку, создающую сдвиг фазы спектра нулевого порядка на четверть длины волны по отношению к спектрам других порядков. Этот метод имеет огромное значение для исследований самых различных объектов и получил название метода фазового контраста. [10]

Используя основную предпосылку дифракционной теории Френеля - Кирхгофа, будем считать, что амплитуда непосредственно перед предметом равна амплитуде невозмущенной освещающей волны U0 ( x, у, z0) и непосредственно за предметом отличается от нее в t ( x, у) раз. [11]

В дальнейшем изложении элементов дифракционной теории оптических инструментов будем считать, что в исследуемых системах тем или иным способом устранены основные аберрации и нарушение стигматичности изображения связано лишь с волновой природой света. [12]

Это объясняется тем, что дифракционная теория учитывает вклад обратной стороны диска, с которой взаимодействуют обогнувшие диск волны. У плоскодонного отверстия обратной стороны нет, а боковые стенки практически не дают вклада в отраженный сигнал. [13]

В своей формулировке n - волновой дифракционной теории Кау-лп и Муди [71 ] описывают прохождение электронов через образец как прохождение через ряд jV двумерных фазовых и амплитудных объектов, разделенных расстояниями Аг. Считают, что полное изменение фазы и амплитуды электронной волны в слое образца толщиной Аг происходит в одной плоскости. Распространение волны от одной такой плоскости к следующей представляют как дифракцию Френеля в вакууме. Было показано [310], что в предельном случае, когда толщина слоя Аг стремится к нулю и число слоев - N стремится к бесконечности, так что N & z - H где Н - толщина образца, эта форма описания становится строгим представлением процесса рассеяния, полностью согласующимся с более общепринятыми квантовомеханическими описаниями. [14]

Эта формула играет первостепенную роль в дифракционной теории оптических инструментов. [15]

Страницы: 1 2 3 4 5