Cтраница 2
Развитая система тестирования имеется в EDA фирмы Mentor Graphics. Анализ тестируемости, выбор способа объединения триггеров в сканирующие регистры входят в число функций программы DFTAdvisor. Программы FastScan и FlexTest генерируют тестовые наборы для сканируемых схем со сложностью до 1 5 млн вентилей. [16]
Проектирование GSI - и WSI-устройств и систем настойчиво стимулирует некоторые новые подходы и методы - новую методологию проектирования. Разработка подобных систем на всех уровнях - архитектурном, структурном, логическом и топологическом - должна быть объединена так близко, как это возможно, и подчинена в значительной степени требованиям тестируемости и контролируемости. Все это могло бы быть выполнено только новым поколением инструментальных средств - сквозной САПР. [17]
Актуальность проблемы тестирования обусловлена ограниченными управляемостью и наблюдаемостью СБИС, поскольку при десятках-сотнях миллионов транзисторов на кристалле имеется лишь несколько сотен внешних выводов. Синтез и анализ тестов занимают до 35 % времени в цикле проектирования СБИС, и, несмотря на такие затраты, удается разрабатывать тесты с приемлемой полнотой обнаружения константных неисправностей только для комбинационных схем. Поэтому проблема тестируемости СБИС сохраняет постоянную актуальность. [18]
Улучшить тестируемость схемы [ уменьшить значения 0 ( 1) - управляемости и наблюдаемости ] можно путем введения дополнительных схем и контрольных точек. Например, как показано на рис. 8.38, б, 0-управляемость исходной схемы ( рис. 8.38, а), а именно ее подсхемы В, можно улучшить путем введения схемы И. Рассмотрим в качестве примера схему, содержащую триггеры ( рис. 8.39, а), и определим показатели ее тестируемости. [19]
Показатель цикломатической сложности нашел широкое применение в методике структурного тестирования, где он используется в двух взаимосвязанных направлениях. Во-первых, он дает рекомендуемое число тестов для ПО. Во-вторых, он используется в течение всех фаз жизненного цикла ПО, начиная с разработки, для обеспечения необходимого уровня надежности, тестируемости и управляемости. [20]