Измерение - интенсивность - спектральная линия
Cтраница 2
Возможно применение фотослоев для измерения интенсивности спектральных линий. Этот метод базируется на следующем свойстве: излучения одной и той же длины волны и равных ин-тенсивностей вызывают на одной и той же пластинке ( пленке) за равные интервалы времени одинаковые почернения. [16]
В этом случае для измерения интенсивности спектральных линий спектр исследуемого вещества снижают на фотографическую пластинку. На пластинке видны линии, степень почернения которых зависит от интенсивности соответствующих спектральных линий. Интенсивность почернения в свою очередь пропорциональна концентрации определяемого элемента. [17]
В этом случае для измерения интенсивности спектральных линий спектр исследуемого вещества снимают на фотографическую пластинку. На пластинке видны линии, степень почернения которых зависит от интенсивности снятых спектральных линий, которая в свою очередь пропорциональна концентрации определяемого элемента. Количественно почернение фотопластинки ( плотность почернения) измеряют при помощи специальных оптических приборов микрофотометров. [18]
В этом случае для измерения интенсивности спектральных линий спектр исследуемого вещества снимают на фотографическую пластинку. [19]
Для регистрации длин волн и измерения интенсивностей спектральных линий используются фотографические методы, которые в настоящее время имеют большую распространенность, чем визуальные методы или методы, основанные на применении фотоэлементов и фотоумножителей. При фотографировании линий в видимой, ультрафиолетовой или инфракрасной области спектра ( 2000 - 90000 А) применяются специальные и обычные фотопластинки или пленки. [20]
Кроме измерения почернений, для измерения интенсивностей спектральных линий могут применяться другие способы измерения воздействия света на фотографическую пластинку. [21]
Кратко описывая излагаемые ниже способы измерения интенсивности спектральных линий стилоскопом, отметим, что хотя они и не получили значительного распространения в практическом анализе сплавов, но представляют несомненный интерес и могут успешно применяться в отдельных случаях. [22]
Количественное определение элементов основано на измерении интенсивности характерных спектральных линий того или иного элемента, входящего в состав анализируемого вещества. При этом исходят из следующей зависимости: чем выше концентрация определяемого элемента, тем больше интенсивность его спектральных линий. [23]
 |
Принципиальная схема эмиссионного газоанализатора. [24] |
Эмиссионный метод анализа основан на измерении интенсивности спектральных линий определяемого компонента при изменении его концентрации. [25]
При фотоэлектрическом методе регистрации света для измерения интенсивности спектральной линии или полосы нужно выделить излучение соответствующего участка спектра. Большинство приемников, например фотоэлементы, имеют слишком большие размеры и помещать их в фокальной поверхности спектрального аппарата нельзя - на них будет попадать свет от целого ряда близко расположенных спектральных линий. Для выделения одной линии или узкого спектрального участка сплошного излучения в фокальной поверхности перед приемником света располагают вторую выходную щель. Такие приборы называют монохроматорами. [26]
При эмиссионном анализе определение основано на измерении интенсивности характерных спектральных линий спектра элементов, входящих в состав данного анализируемого вещества ( см. книга I, Качественный анализ, гл. [27]
При эмиссионном анализе определение основано на измерении интенсивности характерных спектральных линий спектра элементов, входящих в состав данного анализируемого вещества ( см. книга 1, Качественный анализ, гл. [28]
При эмиссионном анализе определение основано на измерении интенсивности характерных спектральных линий спектра элементов, входящих в состав данного анализируемого вещества ( см. книга I, Качественный анализ, гл. [29]
При эмиссионном анализе определение основано на измерении интенсивности характерных спектральных линий спектра элементов, входящих в состав данного анализируемого вещества ( см, книга I, Качественный анализ, гл. [30]
Страницы: 1 2 3 4