Измерение - относительная интенсивность - спектральная линия
Cтраница 1
Измерение относительной интенсивности спектральных линий, испускаемых одним и тем же атомом или одним и тем же ионом, но соответствующих разным степеням возбуждения, может быть использовано для грубой оценки электронной температуры. Предположим, что для появления одной из спектральных линий нужно сообщить атому ( или иону) энергию возбуждения W, а для появления другой линии - более высокую энергию W. Интенсивность каждой из этих линий зависит от того, сколько электронов плазмы, принадлежащих к максвелловскому распределению, будут иметь энергию, достаточную для осуществления первичного процесса возбуждения. [1]
Измерение относительных интенсивностей спектральных линий обнаруженных элементов позволяет оценить их количественное содержание. Количественный эмиссионный анализ основан на прямолинейной зависимости, существующей между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и содержанием его в исследуемой пробе. [2]
 |
Оптическая схема инфракрасного спектрометра HR-10. [3] |
Микрофотометр МФ-2 предназначен для измерения относительной интенсивности спектральных линий в спектрах, снятых на фотографическую пластинку. [4]
Фотографический метод регистрации спектра и измерения относительной интенсивности спектральных линий является даже в настоящее время основным при качественном и количественном эмиссионном анализе. [5]
Задачи количественного эмиссионного анализа включают измерение относительных интенсивностей спектральных линий обнаруженных элементов, что позволяет оценить их концентрацию, так как существует прямолинейная зависимость между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и содержанием его в исследуемой пробе. [6]
 |
К определению.| К определению относительных интенсивностейг двух линий по двум кривым. [7] |
Этот способ позволяет решать задачу измерения относительных интенсивностей спектральных линий, находящихся в различных областях спектральной чувствительности фотоэмульсий. Для этой цели необходимо знать кривую спектральной чувствительности данной фотоэмульсии. Под спектральной чувствительностью понимается, величина, обратная экспозиции Н монохроматического излучения, выраженной в эргах и приходящейся на 1 см2 поверхности эмульсии, которая необходима для получения плотности почернения, на единицу превышающей плотность вуали. EZ соответственно, которые вызывают почернение D над. [8]
В основе методов количественного спектрального анализа лежит измерение относительной интенсивности спектральных линий определяемого элемента 1 и элемента внутреннего стандарта / 2, или элемента сравнения. [9]
В основе большинства современных методов количественного анализа лежит измерение относительной интенсивности спектральных линий определяемого элемента и элемента сравнения, находящегося в той же пробе. [10]
В основе всех современных методов количественного анализа лежит измерение относительной интенсивности спектральных линий определяемого элемента и элемента сравнения, находящегося в той же пробе. [11]
К числу наиболее распространенных относятся способы, основанные на измерении относительной интенсивности соответствующих спектральных линий, принадлежащих одному элементу. [12]
Изменение этих величин от опыта к опыту может привести к ошибкам в измерениях относительных интенсивностей спектральных линий. Поэтому при применении фотографической фотометрии могут быть учтены характер освещения и время экспонирования там, где это необходимо. [13]
На основании этого соотношения Орнштейном разработан спектроскопический метод определения температуры, который базируется на измерении относительных интенсивностей спектральных линий вращательной структуры молекулярных полос или атомных эмиссионных линий. [14]
Стилометр СТ-7 ( рис. 255) отличается от стилоскопов наличием визуального фотометра, позволяющего производить измерения относительных интенсивностей спектральных линий. Действие спектральной части прибора ( 1 - 10) ясно из рисунка. [15]
Страницы: 1 2