Тип - дифракция
Cтраница 2
Большой практический интерес представляет дифракция плоской волны при прохождении через круглое отверстие. С этим типом дифракции приходится иметь дело в различных оптических приборах, в которых роль отверстии играют оправы объективов. Интенсивности светлых колен очень малы по сравнению с интенсивностью центрального максимума ( например, /, 0 018 / о) и быстро убывают с увеличением порядка максимума. [16]
Большой практический интерес представляет дифракция плоской волны при прохождении через круглое отверстие. С этим типом дифракции приходится иметь дело в различных оптических приборах, в которых роль отверстия играют оправы объективов. Интенсивности светлых колец очень малы по сравнению с интенсивностью центрального максимума ( например, / i 0 018 / o) и быстро убывают с увеличением порядка максимума. [17]
Большой практический интерес представляет дифракция плоской волны при прохождении через круглое отверстие. С этим типом дифракции приходится иметь дело в различных оптических приборах, в которых роль отверстия играют оправы объективов. Интенсивности светлых колец очгень малы по сравнению с интенсивностью центрального максимума ( например, / i 0 018 / о) и быстро убывают с увеличением порядка максимума. [18]
Большой практический интерес представляет дифракция плоской волны при прохождении через круглое отверстие. С этим типом дифракции приходится иметь дело в различных оптических приборах, в которых роль отверстия играют оправы объективов. Интенсивности светлых колец очень малы по сравнению с интенсивностью центрального максимума ( например, 1 0 018 / 0) и быстро убывают с увеличением порядка максимума. [19]
 |
Типы дифракции в твердых телах. [20] |
В этом случае формируются волны, огибающие поверхности тел, которые, в свою очередь, порождают дифракционные волны соскальзывания. Существуют методики, использующие этот тип дифракции для измерения периметра объемных дефектов. При этом сравнивают время прохождения сигнала, отраженного от несплошности, и дифрагированного сигнала, обежавшего часть несплошности и соскользнувшего с нее. [21]
Четвертый тип дифракции возникает в тех случаях, когда в среде имеются слои с различными скоростями УЗ волны. Это явление известно под названием рефракции. Этот тип дифракции нашел практическое применение для измерения толщины поверхностно-закаленных слоев металла, например в валках холодной прокатки, где в поверхностном слое скорость звука изменяется в зависимости от глубины слоя. [22]
В этом случае край трещины становится вторичным излучателем, работает как точечный источник и возбуждает сферическую УЗ волну. Вследствие этого трещина, даже неблагоприятно ориентированная по отношению к УЗ лучу, при достаточной чувствительности может быть выявлена УЗ контролем. Использование этого типа дифракции для определения высоты трещины см. в разд. [23]
ИР для объемных дефектов имеет однолепестковую округлую форму. В направлении обратного рассеяния амплитуда отраженного сигнала принимает максимальное значение, а трансформированный сигнал отсутствует. Кроме того, сигналы волн, образующихся в соответствии с третьим типом дифракции, также отсутствуют. [24]
Дифракционное поле эллиптических цилиндров представляет собой совокупность дифракционных полей первого и второго типов. В зависимости от Q может превалировать дифракция того или иного типа. На рис. 1.27 показаны зависимости отношения амплитуд первых двух принятых сигналов, первый из которых является в зависимости от Q отраженным либо дифрагированным на ближайшем к преобразователю краю, второй - дифрагированным по первому или второму типу дифракции. Штриховыми линиями показано среднее квадратическое отклонение значений. [25]
На основании уравнения ( 9) можно ожидать, что спектр поглощения имеет максимумы величин 1Д, которые соответствуют обратным величинам расстояний от центра изучаемого атома до ближайших соседних атомов. По мере приближения ближайших соседей к центральному атому максимумы в спектре поглощения должны сдвигаться к большим величинам 1 / Л, или Ех. Если значительные взаимодействия происходят только с ближайшими соседями, спектры поглощения имеют некоторое формальное сходство с дифракционной картиной, даваемой жидкостями. Если элемент находится в кристалле с высокой симметрией, подобной, например, гранецентрированной кубической решетке металлов или окислов, то происходит наложение растянутой тонкой структуры, указывающее на явление интерференции в большем диапазоне интервалов; такие спектры аналогичны брегговскому типу дифракции в кристаллических твердых телах. [26]
На основании уравнения ( 9) можно ожидать, что спектр поглощения имеет максимумы величин 1Д, которые соответствуют обратным величинам расстояний от центра изучаемого атома до ближайших соседних атомов. По мере приближения ближайших соседей к центральному атому максимумы в спектре поглощения должны сдвигаться к большим величинам 1 / А, или Ех. Если значительные взаимодействия происходят только с ближайшими соседями, спектры поглощения имеют некоторое формальное сходство с дифракционной картиной, даваемой жидкостями. Если элемент находится в кристалле с высокой симметрией, подобной, например, гранецентрированной кубической решетке металлов или окислов, то происходит наложение растянутой тонкой структуры, указывающее на явление интерференции в большем диапазоне интервалов; такие спектры аналогичны брегговскому типу дифракции в кристаллических твердых телах. [27]
Страницы: 1 2