Cтраница 2
Плоскопараллельные концевые меры изготовляют О, 1, 2, 3 и 4-го классов точности. Измерение концевых мер ( аттестацию) производят с различной точностью, в зависимости от класса точности и назначения; точность аттестации характеризуется разрядом. Аттестацию концевых мер производят по I, II, III, IV, V и VI разрядам. [16]
Интерференционный метод обеспечивает наибольшую точность измерения длин концевых мер по сравнению с другими существующими способами. Возможны два метода измерений концевых мер длины: относительный и абсолютный. При относительном интерференционном методе измеряются отклонения длины измеряемой меры от длины образцовой меры более высокого разряда. Абсолютный интерференционный метод основан на сравнении длины измеряемой меры с длиной волны света. Достоинство эталона - длины волны света - состоит в том, что он легко воспроизводится и не изменяется со временем. [17]
Толщина воздушного зазора зависит от неплоскостности соприкасающихся поверхностей, если они не притерты друг к другу. Точнейшими измерениями такого типа являются измерения концевых мер на интерференционном компараторе ( см. разд. [18]
В зависимости от погрешности аттестации мер, указанно инструкцией Комитета, установлены разряды мер. Для каждого из пяти разрядов обусловлены определенные методы и средства измерения. Предельные погрешности измерения концевых мер для каждого разряда, а также методы и средства проверки их приведены в инструкции Комитета. Дополнительной характеристикой при аттестации мер является отклонение меры от плоскопараллельности и качество притираемости. Таким образом, эти показатели являются общими как для классов, так и для разрядов. [19]
Сущность измерения углов интерференционным методом путем счета полос заключается в том, что в прямоугольном треугольнике с малым измеряемым углом меньший катет измеряют в длинах световых волн. Например, при измерении параллельности измерительных поверхностей микрометров интерференционным методом с помощью плоскопараллельной пластины большим катетом является диаметр измерительной поверхности микрометра, а малым - число интерференционных полос на обеих поверхностях, переведенное в микроны. При установке измеряемого клина, притертого к плоской пластинке на столике интерферометра ( например, интерферометра Кестерса, применяемого для измерения концевых мер), на свободной поверхности этого клина, как и на поверхности плоской пластины, наблюдается интерференционная картина. Измерение двугранного угла клина основано на определении числа полос на данном отрезке каждой стороны измеряемого угла. [20]
В нашей стране организация этого дела находится в ведении Всесоюзного научно-исследовательского института метрологии им. Международного бюро мер и весов. Уже теперь ВНИИМ имеет большой опыт по сличению интерференционных установок всей системы Государственного комитета стандартов, мер и измерительных приборов СССР для измерения концевых мер длиною до 100 мм. [21]