Cтраница 5
![]() |
Структурная схема устройства для измерения диэлектрической проницаемости. [61] |
Измерение плотности диэлектрических материалов может быть выполнено другим методом, применяемым для контроля плотности снежного покрова. [62]
![]() |
Зависимость атомного объема от состава ( в ат. % Т1 для сплавов. [63] |
Измерения плотности жидких полупроводников могут иметь ценность в двух отношениях. С одной стороны, данные по плотности нужны для преобразования данных о составах веществ из единиц массы в единицы объема. Такое преобразование необходимо для теоретической интерпретации экспериментальных данных. [64]