Измерение - площадь - поверхность
Cтраница 1
Измерение площади поверхности методом газовой хроматографии, впервые предложенное Нельсеном и Эггертсеном [30], основывается на теории БЭТ. Однако необходимые данные получаются легче, чем в классическом методе БЭТ, измерение производится быстрее и требует применения менее хрупкой аппаратуры. [1]
Измерение площади поверхности методом газовой хроматографии, впервые предложенное Нельсеном и Эггертсеном [30], основывается на теории БЭТ, Однако необходимые данные получаются легче, чем в классическом методе БЭТ, измерение производится быстрее и требует применения менее хрупкой аппаратуры. [2]
Описан метод измерения площади поверхности порошкообразных в-в. Проведено измерение адсорбции в непрерывной проточной системе, где N2 - адсорбирующийся газ, а Не - газ-носитель. [3]
Данная глава ограничена способами и методами измерения площадей поверхности катализаторов. [4]
При изучении полислойной физической адсорбции с целью измерения площади поверхности используют азот, гелий, криптон, бутан и другие газы. При этом определяют часть поверхности, которая доступна для соответствующих молекул. [5]
Автор предпочитает рассматривать метод БЭТ и другие методы измерения площади поверхности по изотермам физической адсорбции как методы, все еще пребывающие в стадии изменения и развития. Следует ожидать новых предложений, модификаций и улучшений метода. Тем не менее измерение величины поверхности катализаторов методами газовой адсорбции может даже уже теперь рассматриваться как весьма солидное направление; оно может быть с уверенностью использовано как способ, позволяющий пролить свет на факторы, влияющие на каталитическую активность. [6]
 |
Изотермы адсорбции Лангмюра ( циф ры на кривых обозначают да вление в системе. [7] |
Еммета - Теллера широко используют для расчета данных адсорбции и измерения площади поверхности [ высокопористых материалов. [8]
Отметив практическое значение определения величины поверхности и радиуса пор, мы далее рассмотрим экспериментальные способы измерения площади поверхности и объема пор с помощью методов, которые особенно пригодны для оценки величины внутренней поверхности и пористости твердых тел. В предпоследнем разделе этой главы, посвященном рассмотрению диффузии в порах катализатора, мы обсудим вопросы установления характеристик пористых структур и выбора соответствующих моделей. [9]
Самый старый метод [12], используемый в химической промышленности, заключается в протравливании продуктов помола плавиковой или соляной кислотой. Единицей измерения площади поверхности частиц служит часть продукта, растворяющаяся в кислоте за определенный промежуток времени. [10]
Для анализа крупных частиц свыше 75 мкм ( 200 меш) с успехом применяют ситовой анализ и электроскопию; электронная микрофотография часто является единственным способом, применимым для частиц субмикронных размеров, где аэродинамические методы исследования непригодны вследствие явно выраженного броуновского движения. Использование методов измерения площади поверхности ( в частности измерение проницаемости, отличающееся быстротой анализа) позволяет получить лишь средние размеры частиц. [11]
Образец стали после измерения площади поверхности помещают на 10 мин в печь, предварительно нагретую до заданной температуры. Окисляемость стали характеризуют по увеличению веса, отнесенному к единице поверхности. [12]
Образец стали после измерения площади поверхности помещают на 10 мин. Окисляемость стали характеризуют по увеличению веса, отнесенному к единице поверхности. [13]
Он может быть определен экспериментально путем измерения площади корродированной поверхности. [14]
Для количественной оценки спектральных интенсивностей необходимо точное измерение толщины кристалла. Простым, хотя и не очень точным, методом является измерение площади поверхности кристалла, спектр которого измерен, с последующим растворением этого кристалла в известном объеме подходящего растворителя. Затем в спектре раствора измеряется оптическая плотность интенсивных полос и производится оценка массы, а отсюда и толщины кристалла. Это позволяет в лучшем случае дать только грубую оценку; метод неприменим для очень тонких образцов. Толщина кристалла может быть измерена также под микроскопом при наблюдении запаздывания, вызванного кристаллом, и сравнения его с разностью показателей преломления при данной длине волны. Гораздо более высокая точность может быть получена при усложнении эксперимента путем использования интерферометрии. [15]
Страницы: 1 2