Толщина - исследуемый - слой
Cтраница 3
Из представленных результатов следует, что в области малоцикловой усталости значение параметра t не зависит от способа его определения, в то время как на значение деформации при N 1 существенно влияет толщина исследуемого слоя. [31]
К пробе добавляют 2 мл раствора сег-нетовой соли, I мл реактива Несслера, перемешивают и точно через 10 минут определяют оптическую плотность раствора на фотоэлектроколориметрв, пользуясь синим светофильтром и кюветой с толщиной исследуемого слоя 50 им. Отсчет производят по левому барабану. [32]
В мерную колбу емкостью 100мл помешают при помощи пипетки необходимый объем исследуемой очной воды ( если нужно, предварительно разбавленной), добавляют 5 мл 0 1 -ного раствора уксуснокислого свинца, объем доводят до метки дистиллированной водой, к которой добавлены 2 капли концентрированного аммиака, энергично перемешивают и сразу же измеряют оптическую плотность раствора на фотоэлектроколориметре пользуясь кюветой с толщиной исследуемого слоя 50 мм и синим светофильтром. Нулевую точку устанавливают по контрольной пробе, в качестве которой берут такое же количество исследуемой воды, как для анализа, помещают в мерную колбу емкостью ТОО мл и доводят объем дистиллированной водой до метки. [33]
В мерную колбу емкостью 100мл помещают при помощи пипетки необходимый объем исследуемой - очной воды ( если нухно, предварительно разбавленной), добавляют 5 мл 0 1 -ного раствора уксуснокислого свинца, объем доводят до метки дистиллированной водой, к которой добавлены 2 капли концентрированного аммиака, энергично перемешивают и сразу хе измеряют оптическую плотность раствора на фотоэлектроколориметре пользуясь кюветой с толщиной исследуемого слоя 50 мм и синим светофильтром. Нулевую точку устанавливают по контрольной пробе, в качестве которой берут такое хе количество исследуемой воды, как для анализа, помещают в мерную колбу емкостью 100 мл и доводят объем дистиллированной водой до метки. [34]
Описан эксперимент на ползучесть эпоксидной смолы ( NARMC05505), обычно применяемой в качестве связующего в современных слоистых композитах. Толщина исследуемого слоя соизмерима с толщиной прослоек связующего в монослое боро-пластика. Эксперимент проведен для четырех уровней температур: 24, 71, 121, 177 С. [35]
Описан эксперимент на ползучесть эпоксидной смолы ( NARMCO 5505), обычно применяемой в качестве связующего в современных слоистых композитах. Толщина исследуемого слоя соизмерима с толщиной прослоек связующего в монослое боро-пластика. Эксперимент проведен для четырех уровней температур: 24, 71, 121, 177 С. [36]
 |
Прохождение плоской волны через отверстие в экране. [37] |
ДИФРАКЦИЯ МЕДЛЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ - дифракция электронов с энергиями от десятков до сотен эВ; один из осн. Толщина исследуемого слоя определяется глубиной проникновения электрона в кристалл без потери энергии. [38]
 |
Электрическая схема блока питания дефектоскопа УЗД-НИИМ-3. Нумерация элементов схемы блока-по общей схеме дефектоскопа. [39] |
Резонансный метод основан на изменении режима работы излучающего пьезоэлектрического элемента в момент возникновения стоячих волн в толщине исследуемого материала. При этом подбирается такое соотношение между толщиной исследуемого слоя и частотой колебаний, oipn котором получается максимальная отдача мощности. Резонанс наступает в том случае, когда отраженные ультразвуковые волны имеют ту же фазу колебаний, что и излучаемые, поэтому резонансный метод часто называется методом прозвучивания с приемом отраженного сигнала по фазе. Нарушение режима работы пьезоэлектрического элемента при резонансном методе может быть обнаружено по изменению силы тока в анодной цепи генератора; измерения производятся по минимуму или максимуму этого тока. [40]
После фильтрования каждого из полученных окрашенных раст воров через воронку со стеклянной фильтрующей пластинкой послед нюю промывают, пропуская через нее 5 мл концентрированной серной кислоты ( пл. После фильтрования окрашенный раствор сливают в кювету с толщиной исследуемого слоя 10 мм и фотоколо-риыетрируют на фотсзлекгроколориметре, пользуясь синим светофильтром. [41]
После фильтрования каждого из полученных окрашенных раст воров через воронку со стеклянной фильтрующей пластинкой последнюю промывают, пропуская через нее 5 мл концентрированной серной кислоты ( пл. После фильтрования окрашенный раствор сливают в кювету с толщиной исследуемого слоя 10 ш и фотоколо-риметрируют на фотоахектроколоринетре, пользуясь синим светофильтром. [42]
Процесс трения характеризуется значительным градиентом деформаций и напряжений по глубине, что следует учитывать при установлении количественных связей между тем или иным структурным параметром ( шириной дифракционных линий, микротвердостью) и износостойкостью. Подобное количественное соотношение может существенно меняться в зависимости от толщины исследуемого слоя. [43]
Главная трудность при количественной оценке структурных изменений и особенно при установлении их количественной связи с интенсивностью износа заключается в выборе методов исследо - - вания. Число циклов до разрушения не зависит от метода исследования ( толщины исследуемого слоя), а абсолютные значения таких параметров, как микротвердость или ширина дифракционных линий, являются их прямой функцией. [44]
После фильтрования полученного окрашенного раствора через воронку со стеклянной фильтрующей пластинкой последнюю промывают, пропуская через нее 5 их концентрированной серной кислоты ( пл. Сразу же после фильтрования окрашенный раствор сливают в кювету с толщиной исследуемого слоя Ю мм я фотоколоримет-рируют на фотоэлектроколориметре, пользуясь синим светофильтром. [45]
Страницы: 1 2 3 4